優(yōu)質的測試探針，是解決測試過程中出現(xiàn)假性開路(假數(shù))、電阻不穩(wěn)定、壽命短、接觸不良、產生電火花、針頭變黑快、容易彎曲和磨損等效果的良方. 我們開發(fā)的探針被廣泛應用在:pcb、fpc、ict、fct、連接器及其它電路元件。探針種類包括：一體測試探針、彈簧測試探針、bga探針、雙頭探針、半導體探針、ic專用探針、ict探針、開關探針、大電流探針、螺紋探針、pcb探針、汽車探針、光伏探針、太陽能探針、光板測試探針、pogo pin針、電池針、汽車束速探針、鎢鋼線探針, 高頻探針、旋轉探針、氣動探針彈簧測試針、通用測試針、充電針、bga高頻（半導體）雙頭針, 設備專業(yè)探針等，可以訂做與德國、美國、意大利、日本、韓國、臺灣尺寸和品質完全一樣的探針。
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