蔡司 Xradia 610 & 620 Versa |
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蔡司 Xradia 610 & 620 Versa
蔡司Xradia 610 & 620 Versa 3D X射線顯微鏡在科研和工業(yè)研究領(lǐng)域?yàn)槟_啟多樣化應(yīng)用的新高度。基于高分辨率和襯度成像技術(shù),Xradia 610 & 620 Versa 大大拓展了亞微米級(jí)無(wú)損成像的研究界限。
總體描述
蔡司
Xradia 610 & 620 Versa 技術(shù)參數(shù):
不受影響的高分辨率 特點(diǎn):擴(kuò)大了微米級(jí)和納米級(jí)CT解決方案的應(yīng)用范圍無(wú)損亞微米級(jí)分辨率顯微觀察 在不影響分辨率的情況下可實(shí)現(xiàn)更高通量和更快的掃描 空間分辨率500nm,最小體素40nm 可在不同 的工作距離下對(duì)不同類型、不同尺寸的樣品實(shí)現(xiàn)高分辨率成像 原位成像技術(shù),在受控環(huán)境下對(duì)樣品微觀結(jié)構(gòu)的動(dòng)態(tài)演化過(guò)程進(jìn)行無(wú)損表征 可隨著未來(lái)的創(chuàng)新發(fā)展進(jìn)行升級(jí)和擴(kuò)展
關(guān)鍵字: 數(shù)碼顯微鏡、進(jìn)口顯微鏡、科研級(jí)顯微鏡、光學(xué)顯微鏡、分析顯微鏡、相差顯微鏡、蔡司顯微鏡、蔡司生物顯微鏡 |
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