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>先進制成Peltier電制冷 FAST SDD硅漂移檢測器

>真空光路配備薄膜濾光片技術(shù)，提高輕元素檢出限

>可同時分析40種元素

>可分析固體，液體，粉末和泥漿

>原裝進口X光管管芯提供可靠卓越樣品激發(fā)性能

>無損檢測，快速分析（1-2分鐘出結(jié)果）

>無需化學(xué)試劑，無耗材，更環(huán)保，更高效

QCYQ-JS9000B 礦石專用光譜分析儀主要應(yīng)用于采礦作業(yè)（勘探、開采、品位控制），工業(yè)礦物，生產(chǎn)水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化學(xué)學(xué)術(shù)研究，考古等。線性動態(tài)范圍，可實現(xiàn)在水泥、礦物、采礦、金屬、玻璃和陶瓷行業(yè)進行精度的過程控制和質(zhì)量控制。具有全新真空光路系統(tǒng)和分辨率技術(shù)的新一代fast sdd檢測器，對輕、中、重元素和常見氧化物（Na2o、Mgo、Al2o3、Sio2、P2o5、So、k2o、Cao、Tio2、Cr2o、Mno、Fe2o、Zno和sro等）都可達到分析效果。

分析性能，使其可以輕松完成對以下礦種的測試：

鐵礦(磁鐵礦、赤鐵礦、鈦鐵礦、菱鐵礦等)

銅礦(黃銅礦、赤銅礦、孔雀石等)       鉻礦(鉻鐵尖晶石、鉻鐵礦、鉻鉍礦等)

鉬礦(輝鉬礦、銅鉬礦、鎢鉬礦等)      鎢礦(白鎢礦、黑鎢礦、錫鎢礦等)

鉭礦(鉭鐵礦、鈮鐵礦、燒綠石等)       鉛鋅礦(方鉛礦、閃鋅礦、白鉛礦等)

鎳礦(紅土鎳礦、硫化銅鎳礦等)          鋁土礦   其它礦類

產(chǎn)品特點

1.小型化、高性能、高速度、易操作，高靈敏度、高精度分析

2.可同時分析40種元素

3.采用多準(zhǔn)直器多濾光片和扣背景技術(shù)

4. Peltier電制冷FAST SDD硅漂移檢測器提供出色的短期重復(fù)性和長期再現(xiàn)性以及出色的元素峰分辨率

5.超高記數(shù)數(shù)字多道電路設(shè)計，雙真空抽速機構(gòu)，真空度自動穩(wěn)定系統(tǒng)

6.標(biāo)配基本參數(shù)法軟件，多任務(wù)，多窗口操作

7.薄膜濾光片技術(shù)，有效提高輕元素檢出限

>儀器參數(shù)

儀器配置

全新設(shè)計的XTEST分析軟件

軟件內(nèi)核包括基本參數(shù)法（FP），經(jīng)驗系數(shù)法（EC）,可輕松分析各類樣品。

光譜處理參數(shù)包括用于定義背景連續(xù)性，堆積峰和峰總和，平滑度以及測量到的峰背景光譜的數(shù)量

對吸收以及厚膜和薄膜二次熒光的完全校正，即所有基質(zhì)效應(yīng)，增強和吸收。

譜顯示：峰定性，KLM標(biāo)記，譜重疊比較，可同時顯示多個光譜圖

可以通過積分峰的凈面積或使用測得的參考光峰響應(yīng)，將光峰強度建模為高斯函數(shù)。

可以使用純基本參數(shù)方法，具有分散比的基本參數(shù)（對于包含大量低Z材料的樣品）或通過簡單的最小二乘擬合進行定量分析。

基本參數(shù)分析可以基于單個多元素標(biāo)準(zhǔn)，多個標(biāo)準(zhǔn)或沒有標(biāo)準(zhǔn)的樣品。

         產(chǎn)品報價

QCYQ-JS9000B 礦石專用光譜分析儀（真空型）

     含電腦一套  打印機一臺   真空泵 

        輔助設(shè)備

    30T電動壓餅機 一 臺     

     破碎機    制樣機     各一臺                     

 電子稱 千分之一 1臺    硼酸99.95%分析純  10瓶

 稱量紙 120*120  5包   無塵布 120*120  5包

   洗耳球 2個  標(biāo)簽紙 一包  自封袋 數(shù)包