蔡司Crossbeam系列 |
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蔡司Crossbeam專為高通量樣品制備和3D分析而設(shè)計(jì)的FIB-SEM 蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM結(jié)合了場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)出色的成像和分析性能,和新一代聚焦離子束(FIB)優(yōu)異的加工性能。無(wú)論是在科研或是工業(yè)實(shí)驗(yàn)室,您都可以在一臺(tái)設(shè)備上實(shí)現(xiàn)多用戶同時(shí)操作。得益于蔡司Crossbeam
總體描述
蔡司Crossbeam專為高通量樣品制備和3D分析而設(shè)計(jì)的FIB-SEM 技術(shù)參數(shù):
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蔡司 Crossbeam 550 特點(diǎn):· 使用Gemini電子光學(xué)系統(tǒng),您可以從高分辨率SEM圖像中提取真實(shí)樣本信息 · 使用新的Ion-sculptor FIB鏡筒以及全新的樣品處理方式,您可以大限度地提高樣品質(zhì)量、降低樣品損傷,同時(shí)大大加快實(shí)驗(yàn)操作過(guò)程 · 使用Ion-sculptor FIB的低電壓功能,您可以制備超薄的TEM樣品,同時(shí)將非晶化損傷降到非常低 · 使用Crossbeam 350的可變氣壓功能 · 或使用Crossbeam 550實(shí)現(xiàn)更苛刻的表征,大倉(cāng)室甚至為您提供更多選擇
北京冠普佳科技有限公司, 電話:010-82908762 網(wǎng)址:www.groupca.cn 聯(lián)系人:周文斌:138 1111 8760 李瀟吟:152 0118 0898
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