傳感器IC200UEX011
工業(yè)電路板維修技巧
不能過分依賴在線測(cè)試儀
1.功能測(cè)試不能代替參數(shù)測(cè)試
2. 功能測(cè)試僅能測(cè)試到器件的截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū),但無法了解此時(shí)的工作頻率的高低和速度的快慢。
3. 對(duì)數(shù)字芯片而言,僅知道有高低電平的輸出變化,但無法查出它的上升和下降沿的變化速度。
4. 對(duì)于模擬芯片,它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布,解決信號(hào)方案的不同的影響,是錯(cuò)綜復(fù)雜的。就目前的在線測(cè)試技術(shù),要解決模擬芯片在線測(cè)試是不可能的。所以,這項(xiàng)功能測(cè)試的結(jié)果,僅能供參考。
5. 大多數(shù)的在線測(cè)試議,在對(duì)于電路板上的各類芯片進(jìn)行功能測(cè)試后,均會(huì)給出“測(cè)試通過”或“測(cè)試不通過”。那么它為什么不給出被測(cè)器件是否有問題呢?這就是這類測(cè)試儀的缺撼。因?yàn)樵诰測(cè)試時(shí),所受影響(干擾)的因素太多。要求在測(cè)試前采取不少的措施(如斷開晶振,去掉CPU和帶程序的芯片,加隔離中斷信號(hào)等等),這樣做是否均有效,值得研究。至少,目前的測(cè)試結(jié)果有時(shí)不盡人意。
6. 了解在線測(cè)試儀的讀者,均知道有這么一句行話!霸诰測(cè)試時(shí)不通過的芯片不一定是損壞的;測(cè)試通過的芯片一定是沒有損壞的。”它的解釋為,如器件受在線影響或抗干擾時(shí),結(jié)果可能不通過,對(duì)此不難理解。那么,是否損壞的芯片在進(jìn)行測(cè)試時(shí),均會(huì)得出“不通過”呢?回答確實(shí)不能肯定。筆者與同行均遇到過,明明芯片已損壞了(確切地說換上這個(gè)芯片板子就不工作了),但測(cè)試結(jié)果是通過的。權(quán)威解釋為這是測(cè)試儀自身工作原理(后驅(qū)動(dòng)技術(shù))所致。故此我們不能過分依賴在線測(cè)試儀(盡管各廠家宣傳的很玄)的作用,否則將使維修電路板的工作誤入歧途。
傳感器IC200UEX011
IC200UDR164
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IC200CBL600
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IC200CBL545
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IC200UDR010
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IC200CBL501
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IC200UDR003
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IC200UDD104
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IC200MDL240
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IC200CHS006
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IC200TBX214
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IC200MDL940
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IC200ALG430
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IC200ALG326
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IC200MDL141
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IC200MDL744
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IC200TBX123
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IC200MDL140
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IC200CBL635
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IC200CBL615
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IC200MDL742
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IC200MDL740
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IC200UEX015
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IC200CBL555
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IC200CBL605
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IC200ALG321
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IC200UEX012
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IC200PWR012
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IC200UER016
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IC200PWR201
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IC200MDD840
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IC200PWR011
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IC200PWR102
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IC200DTX450
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IC200UEC208
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IC200ALG262
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IC200ERM001
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IC200USB002
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IC200USB001
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IC200UMB001
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IC200UEX214
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IC200UEX824
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IC200UEX826
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IC200UEX222
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IC200UEX624
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IC200UEX211
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IC200UEX626
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IC200UEX212
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IC200UEX364
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IC200UEX616
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IC200UMM002
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IC200UEX122
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IC200UEX209
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盡管在一年前,元宇宙還是一個(gè)務(wù)虛的概念,但在工業(yè)領(lǐng)域,由于工業(yè)元宇宙是工業(yè)互聯(lián)網(wǎng)的更高級(jí)形態(tài),同時(shí)也是全球智能制造的“未來形態(tài)”,工業(yè)元宇宙在短短一年內(nèi)就經(jīng)歷了一個(gè)脫虛務(wù)實(shí)的進(jìn)程。TrendForce集邦咨詢數(shù)據(jù)更是顯示,工業(yè)元宇宙將催動(dòng)全球智能制造市場(chǎng)規(guī)模于2025年達(dá)5400億美元,2021至2025年復(fù)合成長(zhǎng)率達(dá)15.35%。
KJ4001X1-DG1
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KJ4001X1-EA1
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KJ4001X1-GA1
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KJ4001X1-GG1
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KJ4001X1-HA1
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KJ4003X1-BF1
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VE4001S3T1B1
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VE4002S1T1B1
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VE4002S1T1B3
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VE4002S1T2B2
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VE4002S1T2B3
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VE4002S1T2B4
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VE4002S1T2B5
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Allen-Bradley(羅克韋爾),Schneider(施耐德),Siemens(西門子),GE(通用電氣),ABB,
Omron(歐姆龍),IFM(易福門),Emerson(艾默生),F(xiàn)anuc(發(fā)那科),F(xiàn)oxboro(?怂共_),
Westinghouse(西屋),Honeywell(霍尼韋爾),Panasonic(松下),Mitsubsihi(三菱),
Beckhoff(倍福),Yaskawa(安川),Pepperl+fuchs(倍加福),B&R(貝加萊),Danfoss(丹佛斯)
,F(xiàn)uji(富士),F(xiàn)esto(費(fèi)斯托),Phoenix(菲尼克斯),Koyo(光洋),Yokogawa(橫河),
Heidenhain(海德漢),Hydac(賀德克),Hirschmann(赫斯曼),Keyence(基恩士),Moeller(穆勒),
Kuka(庫卡),Kollmorgen(科爾摩根),Lenze(倫茨),Rosemount(羅斯蒙特),LG,LS(產(chǎn)電),
Rexroth(力士樂),Leuze(勞易測(cè)),Norgren(諾冠),Pilz(皮爾茲),Pro-face(普洛菲斯),
SMC,Sanyo(三洋),Delta(臺(tái)達(dá)),Turck(圖爾克),Sick(施克),Sharp(夏普),Eaton(伊頓),bently (本特利)
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