TE8040B固體體積電阻率及表面電阻率測(cè)試儀 |
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介 TE8040B固體體積電阻率及表面電阻率測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》(等同IEC 60093)和GB/T 10064-2006《測(cè)量固體絕緣材料絕緣電阻的實(shí)驗(yàn)方法》(等同IEC 60167)而設(shè)計(jì)和制造的。集高阻和微電流功能為一體的測(cè)量?jī)x器。主要用于各種絕緣材料的體積電阻率、表面電阻率和絕緣電阻及微電流的測(cè)量。 產(chǎn)品別稱 固體體積電阻率測(cè)試儀、表面電阻率測(cè)試儀、絕緣材料固體體積及表面電阻率測(cè)試儀 TE8040B固體體積電阻率及表面電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品特征 TE8040B固體體積電阻率及表面電阻率測(cè)試儀,量程達(dá)2×1015Ω。 適用于高阻值絕緣材料、電工產(chǎn)品、各類元器件及電線電纜的絕緣電阻的測(cè)量。 TE8040B固體體積電阻率及表面電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品參數(shù)
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