| 深圳SGS提供鋁合金陽極氧化膜厚度和封孔質(zhì)量等測試服務(wù) |
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通標標準技術(shù)服務(wù)有限公司深圳分公司
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深圳SGS提供鋁合金陽極氧化膜厚度和封孔質(zhì)量等測試服務(wù) SGS Shenzhen branch provides testing services for aluminum alloy anodic oxide film thickness/sealing quality, etc.
陽極氧化膜，封孔質(zhì)量，膜層厚度
陽極氧化工藝：將金屬或合金的制件作為陽極，采用電解的方法使其表面形成氧化物薄膜，改變了樣品表面狀態(tài)和性能，如表面著色，提高耐腐蝕性、增強耐磨性及硬度，保護金屬表面等。 陽極氧化后的合金，其硬度和耐磨性得以提高，氧化膜薄層中具有大量的微孔，可吸附各種潤滑劑，適合制造發(fā)動機氣缸或其他耐磨零件;膜微孔吸附能力強可著色成各種美觀艷麗的色彩。 如上所述，鋁陽極氧化包括電解著色所生成的膜是多孔的(孔隙率約為5%～30%)，這種多孔的膜層硬度低，耐磨性差，抗腐蝕性不良，容易被污染。已著色的膜如果不封孔，也很容易掉顏色。為了提高膜的性能，通常將多孔質(zhì)層的孔隙封閉。通常封孔的方法有水合封孔、工業(yè)鋁型材無機鹽溶液處理封孔和有機涂料封孔等。 日常生活中，接觸得比較多的，屬于鋁合金陽極氧化膜，其厚度通常為5～30微米 ，硬質(zhì)陽極氧化膜可達25～150微米。
測試標準(中文) 鋁及鋁合金陽極氧化物鍍層單位面積質(zhì)量： ASTM B137-95(2014) ISO 2106：2019 GB/T 8014.2-2005 ISO 3210:2017 鋁合金陽極氧化膜封孔質(zhì)量的評定－酸處理后的染色法 ASTM B136-84(2018)?1 GB/T 8753.4-2005 用酸溶解法測定鋁的陽極鍍層封閉質(zhì)量的試驗方法 ASTM B680-80（2019） GB/T8753.2-2005 EN12373-7：2002(已作廢) 鍍層厚度測試：光學顯微鏡 GB/T 6462-2005 ASTM B487-85(2013） ISO 1463:2003 EN ISO 1463:2004 JIS H 8501:1999 AS 1231-2000（R2017） Test Standard（英文） Coating Mass per Unit Area on Anodically Coated Aluminum： ASTM B137-95(2014) ISO 2106：2019 GB/T 8014.2-2005 ISO 3210:2017 Assessment of quality of sealed anodic oxide coatings-dye spot test with prior acid treatment： ASTM B136-84(2018)?1 GB/T 8753.4-2005 Standard test method for seal quality of anodic coatings on aluminum by acid dissolution： ASTM B680-80（2019） GB/T8753.2-2005 EN12373-7：2002(已作廢) Coating thickness test: optical microscope ： GB/T 6462-2005 ASTM B487-85(2013） ISO 1463:2003 EN ISO 1463:2004 JIS H 8501:1999 AS 1231-2000（R2017）
測試注意事項 鋁及鋁合金陽極氧化物鍍層單位面積質(zhì)量/ Coating Mass per Unit Area on Anodically Coated Aluminum： A氧化膜面積800mm?~10000mm?,試樣質(zhì)量不超過100g 鋁合金陽極氧化膜封孔質(zhì)量的評定－酸處理后的染色法/ Assessment of quality of sealed anodic oxide coatings-dye spot test with prior acid treatment： A不建議做小于3um的陽極氧化膜 用酸溶解法測定鋁的陽極鍍層封閉質(zhì)量的試驗方法/ Standard test method for seal quality of anodic coatings on aluminum by acid dissolution： A有效氧化膜面積10000mm?(GB至少5000mm?)，試樣質(zhì)量小于200g, 鍍層厚度測試：光學顯微鏡/ Coating thickness test: optical microscope ： A.需要破壞樣品觀察橫截面 |
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