| 蔡司Crossbeam-蔡司聚焦離子束掃描電鏡 |
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價(jià)格： 元(人民幣) | 產(chǎn)地：本地 |
| 最少起訂量：1 | 發(fā)貨地：本地至全國(guó) | |
| 上架時(shí)間：2022-07-30 23:05:31 | 瀏覽量：15 | |
卡爾蔡司（上海）管理有限公司
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹 蔡司Crossbeam系列- 蔡司聚焦離子束掃描電鏡將場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）鏡筒的強(qiáng)大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束（FIB）的高效處理加工能力相結(jié)合。無(wú)論是加工切割、成像或進(jìn)行3D分析，都能在不損失精度的前提下，提高聚焦離子束的應(yīng)用速率效率。通過(guò)加裝飛秒激光（Femtosecond Laser）模塊，Crossbeam的加工效率可進(jìn)一步拓展，同時(shí)可以滿足多種微納加工需求。
[ 產(chǎn)品特點(diǎn) ] 1. 低能著陸電壓下獲得高分辨率圖像 2. 可實(shí)現(xiàn)大尺寸到納米精度的切割 3. 批量自動(dòng)制備TEM薄片樣品 4. Atlas 5可創(chuàng)建多尺度、多模式綜合圖像 5. ToF-SIMS 實(shí)現(xiàn)高通量3D成份分析 6. 特別設(shè)計(jì)的無(wú)漏磁鏡筒 7. 不導(dǎo)電樣品不受荷電效應(yīng)影響 8. 加裝飛秒激光模塊，實(shí)現(xiàn)亞毫米級(jí)快速加工，同時(shí)有效避免腔室污染
[ 應(yīng)用領(lǐng)域 ] 1. 生命科學(xué)，如斷層掃描，三維重構(gòu) 2. 電池領(lǐng)域，如原子層組分表征 3. 半導(dǎo)體領(lǐng)域，如失效分析，電路修復(fù) 4. 金屬領(lǐng)域，如界面分析，亞表面分析 5. 材料科學(xué)，如晶體微觀結(jié)構(gòu)分析，納米圖形化加工 6. 透射電鏡、EBSD、微觀力學(xué)等多種樣品的原位制備 7. 微納加工
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