Tracer藝術(shù)與考古X射線熒光光譜儀 |
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價格: 元(人民幣) | 產(chǎn)地:本地 |
最少起訂量:1 | 發(fā)貨地:本地至全國 | |
上架時間:2022-07-30 22:47:35 | 瀏覽量:8 | |
上海準(zhǔn)權(quán)儀器設(shè)備有限公司
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經(jīng)營模式:其他 | 公司類型:[db:公司類型] | |
所屬行業(yè): | 主要客戶:全國 | |
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聯(lián)系人:張小姐 () | 手機(jī):18017801375 |
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郵箱: | 地址:上海市華騰路1218號嘉壹智匯801室 |
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹 Tracer藝術(shù)與考古X射線熒光光譜儀 TRACER 5i是Bruker公司2016年底新發(fā)布的科研型手持式XRF設(shè)備,也稱便攜式XRF。是繼原有功能強(qiáng)大的Tracer家族系列后, Bruker發(fā)布的更高ji的手持式XRF產(chǎn)品。其性能是市售一般手持式XRF無法相提并論的, 在歐美藝術(shù)界/考古學(xué)/鑒定/修復(fù)行業(yè)中市場占有率排行第yi, 受到SHIJIE各大博物館青睞。 Tracer藝術(shù)與考古X射線熒光光譜儀 技術(shù)特點(diǎn)及其優(yōu)勢: · TRACER 5i是手持式XRF外觀設(shè)計,適合各種場所;同時,又有強(qiáng)大的分析軟件,具有完備的實驗室級別XRF分析儀的強(qiáng)大功能和準(zhǔn)確性。 · 光斑用戶可調(diào):有3mm和8mm兩種孔徑的準(zhǔn)直器,用戶可以自行更換。 · 用戶可以自己制作/更換濾片以提升元素測量的靈敏度;Bruker提供專用工具用于制作濾片。 · 優(yōu)良的光束品質(zhì):專有的SharpBeam™光束優(yōu)化專li技術(shù),保證在低功率下也有優(yōu)良表現(xiàn) · 具有NASA專li技術(shù)的真空泵,可以在設(shè)備內(nèi)部、測量的光路區(qū)域形成真空,提升設(shè)備對輕質(zhì)元素如Na、Mg、Al等的靈敏度,特別適合測量玻璃、陶瓷等材質(zhì);由于真空是在設(shè)備內(nèi)部的,并不會對被測物體造成不必要的傷害,如出土的絲綢、紙張等材質(zhì)。真空泵上有真空度顯示,方便用戶識別。 · 元素檢測范圍從Na(11) - U(92), 極限條件下可偵測到F(9) (是市售靈敏便攜式XRF分析儀)。 TRACER 5i專門優(yōu)化設(shè)計了氣體流動通道 - 可提供氦氣(He)吹拂, 或搭配其它氣體來協(xié)助分析。 · 控制的多樣性:可以使用設(shè)備內(nèi)建的PDA界面控制,也可以使用PC或者平板電腦連接控制。 行業(yè)應(yīng)用: 金屬分析,廢料分揀,材料可靠性鑒別,采礦與探礦,環(huán)境與土壤篩選,藝術(shù)與考古,研究與教學(xué) |
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