| 薄膜測(cè)厚儀 |
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價(jià)格： 元(人民幣) | 產(chǎn)地：本地 |
| 最少起訂量：1 | 發(fā)貨地：本地至全國(guó) | |
| 上架時(shí)間：2022-07-30 22:37:27 | 瀏覽量：5 | |
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹 產(chǎn)品名稱：薄膜測(cè)厚儀主要技術(shù)指標(biāo)： 測(cè)量范圍（VIS）：15nm—100μm 測(cè)量重復(fù)性（RMS）：0.086nm 測(cè)量精度（與橢偏儀對(duì)比）：0.25nm 測(cè)量層數(shù)：大于3層 使用光源：鹵素?zé)簦?入射角度：90° 測(cè)試材料：透明或半透明薄膜材料； 光斑尺寸：20μm—3mm（可選） 測(cè)量時(shí)間：100ms—4ms； 通信接口：USB2.0 產(chǎn)品特點(diǎn)：采用光譜干涉原理進(jìn)行測(cè)量，具有非接觸、無(wú)破壞、快速等特點(diǎn)；可在真空環(huán)境使用；可與大行程工件臺(tái)配合，實(shí)現(xiàn)大面積膜厚自動(dòng)測(cè)量。 薄膜測(cè)厚儀測(cè)試數(shù)據(jù)：
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