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Flow Technology進(jìn)口開關(guān)FT-16C4E3R-GGH-2辦事處偶發(fā)異常測試在研發(fā)過程中，偶發(fā)異常是經(jīng)常會遇到的情況，但是排查起來相當(dāng)痛苦，因?yàn)榕及l(fā)異常的不去確定性導(dǎo)致難以判斷發(fā)生時(shí)間，同時(shí)異常波形的形狀又無法確認(rèn)，沒辦法通過示波器觸發(fā)出來。偶發(fā)異�？赡苋舾纱危灿锌赡芤恢苋舾纱�，而示波器存儲深度小，無法記錄。ZDL6示波記錄儀可選2T硬盤，記錄波形長可達(dá)5天，配備雙捕獲功能，長時(shí)間的趨勢數(shù)據(jù)通常采用低采樣率采集趨勢數(shù)據(jù)，但突發(fā)的高度瞬態(tài)異常信號需要采用高采樣率捕捉。
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Flow Technology進(jìn)口開關(guān)FT-16C4E3R-GGH-2辦事處世界半導(dǎo)體工業(yè)界預(yù)測，這種進(jìn)步至少仍將持續(xù)10到15年。面對現(xiàn)有的晶體管模式及技術(shù)已經(jīng)臨近極限，借助芯片設(shè)計(jì)人員巨大的創(chuàng)造才能，使一個(gè)個(gè)看似不可逾越的難關(guān)化險(xiǎn)為夷，硅晶體管繼續(xù)著小型化的步伐。近期美國科學(xué)家的科技成果顯示，將10納米長的圖案壓印在硅片上的時(shí)間為四百萬分之一秒，把硅片上晶體管的密度提高了100倍，同時(shí)也大大提高了線生產(chǎn)的速度。這一成果將使電子產(chǎn)品繼續(xù)微小化，使摩爾定律繼續(xù)適用。
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