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日本日置 IM3536 LCR測試儀主機不標配測試治具。請在選件中選擇測試治具和探頭。
日本日置 IM3536 LCR測試儀技術(shù)參數(shù)；
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測量模式
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LCR（單一條件下測量），連續(xù)測量（保存條件下連續(xù)測量）
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測量參數(shù)
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Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc（直流電阻），Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
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測量量程
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100 mΩ~100 MΩ, 10檔量程（所有參數(shù)由Z規(guī)定）
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顯示范圍
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Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
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基本精度
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Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保證范圍：1mΩ~200MΩ）
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測量頻率
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4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步進)
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測量信號電平
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[V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (大50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (大10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (大100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (大5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (大1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (大1 V)
[直流電阻測量]: 1 V固定
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DC偏壓
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發(fā)生范圍：DC電壓0~2.50 V (低Z高精度模式時0 ~1 V)
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輸出阻抗
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通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
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顯示
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彩色TFT5.7英寸，觸摸屏
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功能
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比較器、BIN測量（2個項目10種分類），觸發(fā)功能、開路·短路補償、接觸檢查、面板保存·讀取功能、存儲功能
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接口
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EXT I/O (處理器), /USB/U盤/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD輸出
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電源
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AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
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體積及重量
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330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
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附件
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電源線×1,使用說明書×1,CD-R（通訊說明書，LCR應(yīng)用光盤）×1
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