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儀器簡介：<\/span><\/span><\/strong><\/p>\r

透明物體由于不均勻冷卻或其他如受機(jī)械作用等原因，其內(nèi)部會產(chǎn)生內(nèi)應(yīng)力，引起雙折射。晶體物質(zhì)本身具有雙折射的光學(xué)特征。WYL-4應(yīng)力雙折射儀采用偏振光電矢量合成及光學(xué)補(bǔ)償原理，通過對樣品的光程差的定量測定,確定樣品應(yīng)力雙折射的大小。本儀器能**測定光學(xué)波片的光程差、確定光學(xué)玻璃的應(yīng)力級別,是光學(xué)儀器制造業(yè)不可缺少的儀器。也是研究晶體礦物質(zhì)的重要工具。它不僅在工業(yè)生產(chǎn)中得到廣泛應(yīng)用，而且在國防、建材、地質(zhì)礦產(chǎn)、材料科學(xué)方面也占有重要地位。同時(shí),本儀器也是各大專院校特別理想的教學(xué)實(shí)驗(yàn)設(shè)備。<\/span><\/p>\r

儀器特點(diǎn)：<\/span><\/span><\/strong><\/span><\/p>\r

● 直讀納米級光程差，無須計(jì)算
● 雙分視場零位檢測，靈敏度高
● 樣品工作臺45度自動(dòng)定位
● 體積小巧,結(jié)構(gòu)緊揍
● 操作方便,可靠實(shí)<\/span><\/span><\/p>\r

儀器參數(shù)：<\/span><\/span><\/strong><\/span><\/span><\/p>\r

◆ 單色光波長:            λ=589.44nm
◆ 光程差測定范圍 ：      ± 590 nm
◆ 度盤格值：　　　　     5nm
◆ 最小讀數(shù)(1/5估讀):     1nm        
◆ 儀器零位誤差           ±2nm    
◆ 波片讀數(shù)重復(fù)性         1nm
◆ 被檢樣品最大尺寸：     寬度440mm；長度440mm；高度240 mm
◆ 光源：                 220V 20W低壓鈉燈
◆ 儀器外形尺寸：         長413mm  寬250mm  高400mm<\/span><\/span><\/span><\/strong><\/span><\/span><\/p>