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  蔡司MERLIN系列場發(fā)射掃描電鏡使用未來的實驗室分析儀器

  借助 MERLIN 系列場發(fā)射掃描電鏡，即可在數(shù)秒內完成圖像采集，觀察清晰的原子級分辨率圖像及進行完整的三維表面測量與分析。無論是配備性能出色GEMINI I 鏡筒的入門型 MERLIN Compact 電鏡，或是配備高分辨率 GEMINI II鏡筒的高端型 MERLIN 電鏡，MERLIN 系列均是未來穩(wěn)固投資的zui佳之選：場發(fā)射掃描電鏡協(xié)助您更好地應對未來工作中的各種挑戰(zhàn)。15 個探測器端口和多個分析選擇，為用戶提供靈活性和擴展性。

  MERLIN 系列易于擴展，以適應不斷增長的需求

  MERLIN 系列場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)可以采集高分辨圖像，做成份分析，獲取樣品全部信息。樣品室配有用于安裝探測器和多種分析功能選項的 15 個端口，協(xié)助您完成從圖像采集到完整的材料分析等一系列工作。根據應用需求進行功能擴展：MERLIN 系列具備全面的可升級性。

  蔡司MERLIN系列場發(fā)射掃描電鏡應用無極限

  使用原子力顯微鏡功能選項，以原子級分辨率獲取半導體樣品的表面結構信息。通過增加 3View® 超

  微切機實現(xiàn)大體積生物樣本的三維重構。MERLIN系列的平臺設計與智能化探測器技術，隨時可借助即插即用擴展功能實現(xiàn)系統(tǒng)升級。開放式的系統(tǒng)軟件編程接口，可快速地整合市場上zui新的分析解決方案。

  全面便捷的樣品分析

  MERLIN 系列的整套探測系統(tǒng)由不同探測器組成：in-lens 二次電子探測器用于高分辨率成像、能量選擇背散射探測器(EsB)用于低電壓成份襯度成像、in-lens duo 探測器用于二次電子和背散射電

  子成像，或角度選擇背散射探測器(AsB)用于晶體表面的結構分析。適合對各種材料進行單獨的分析，或與探測器信號一起獲取更豐富的圖像信息。這些只需根據應用選配一個或多個探測器便可實現(xiàn)。

  蔡司MERLIN 系列場發(fā)射掃描電鏡產品來源：

  http://www.chem17.com/st331930/product_27324637.html

  http://www.xyichuang.com.cn/Products-27324637.html