| 工件內(nèi)部缺陷檢測單位 |
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價格：0 元(人民幣) | 產(chǎn)地：本地 |
| 最少起訂量：1件 | 發(fā)貨地：本地至全國 | |
| 上架時間：2018-07-30 11:45:36 | 瀏覽量：277 | |
江蘇科海檢驗有限公司
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| 經(jīng)營模式：商業(yè)服務 | 公司類型：私營獨資企業(yè) | |
| 所屬行業(yè)：檢測服務 | 主要客戶：生產(chǎn)商出口商貿(mào)易商 | |
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我公司提供工業(yè)CT探傷檢測，歡迎來電咨詢！ 工業(yè)CT探測器 目前常用的探測器主要有高分辨CMOS半導體芯片、平板探測器和閃爍探測器三種類型。半導體芯片具有最小的像素尺寸和最大的探測單元數(shù)，像素尺寸可小到10 μm左右。平板探測器通常用表面覆蓋數(shù)百微米的閃爍晶體(如CsI)的非晶態(tài)硅或非晶態(tài)硒做成，像素尺寸約127 μm，其圖像質(zhì)量接近于膠片照相。閃爍探測器的優(yōu)點是探測效率高，尤其在高能條件下，它可以達到16 ~ 20 bit的動態(tài)范圍，且讀出速度在微秒量級。其主要缺點是像素尺寸較大，其相鄰間隔(節(jié)距)一般≥0. 1 mm。
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