E5071C簡(jiǎn)介編輯:
KEYSIGHT E5071C射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀,是安捷倫(AGILENT)公司生產(chǎn)的一款專用于射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀的產(chǎn)品,E5071C網(wǎng)絡(luò)分析儀具有同類產(chǎn)品中最高的射頻性能和最快的速度,并具有寬頻率范圍和全面的功能。它是制造和研發(fā)工程師們測(cè)試頻率范圍在 20 GHz 以內(nèi)的射頻元器件和電路的理想解決方案。
E5071C最新特性:
新款 20 GHz 選件可將E5071CENA 系列網(wǎng)絡(luò)分析儀的頻率范圍擴(kuò)展至 20 GHz。新款 20 GHz 選件支持雙端口(選件 2K5)和四端口(選件 4K5)兩種配置,可用于測(cè)量各種成分,例如 WLAN、WiMAX?、UWB 或任何 4G技術(shù)中的無(wú)源器件的第三個(gè)諧波。
新特性
E5071CENA 網(wǎng)絡(luò)分析儀手冊(cè)
討論校準(zhǔn)、應(yīng)用和編程問(wèn)題: 網(wǎng)絡(luò)分析儀論壇
選擇附件: 網(wǎng)絡(luò)分析儀附件
支持: ENA 系列服務(wù)和支持主頁(yè)
E5071C8.5G射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀 9kHz-8.5GHz
AgilentE5071C網(wǎng)絡(luò)分析儀提供了最快、的射頻器件測(cè)量能力。其先進(jìn)的體系結(jié)構(gòu)通過(guò)減少掃描次數(shù)來(lái)
完成多端口測(cè)量,進(jìn)一步提高了測(cè)試吞吐率。
E5071C主要技術(shù)指標(biāo)編輯:
頻率范圍:300 kHz至8.5GHz
在測(cè)試端口處保持125 dB動(dòng)態(tài)范圍(典型值)
寬動(dòng)態(tài)范圍:在測(cè)試端口上的動(dòng)態(tài)范圍> 123 dB(典型值)
極快的測(cè)量速度:39 ms(進(jìn)行完全雙端口校準(zhǔn),掃描1601點(diǎn)時(shí))
低跡線噪聲:0.004 dB rms(70 kHz IFBW時(shí))
集成的2和4端口,帶有平衡測(cè)量能力
提供頻率選件:從9 kHz/100 kHz(帶有偏置T型接頭)到4.5 GHz/8.5 GHz
掃描速度:9.6微秒/點(diǎn)
跡線噪聲:0.001 dB rms
集成的2、3和4端口,帶有平衡測(cè)量能力
夾具嵌入/反嵌和端口特性阻抗轉(zhuǎn)換
用于變頻設(shè)備的頻率偏置模式
內(nèi)置Visual Basic . for Applications(VBA)
測(cè)量向?qū)е周浖?/span>
E5071C技術(shù)指標(biāo):
寬動(dòng)態(tài)范圍:測(cè)試端口上的動(dòng)態(tài)范圍 > 123 dB(典型值)
極快的測(cè)量速度:41 ms,進(jìn)行全雙端口校準(zhǔn),掃描 1601 點(diǎn)時(shí)
極低的跡線噪聲:0.004 dB rms,70 kHz IFBW 時(shí)
E5071C特性:
內(nèi)置 Visual Basic for Applications(VBA)
強(qiáng)大的分析和誤差校正功能
隨時(shí)升級(jí)所有可用的 ENA 選件
選件配置
E5071C—240雙端口測(cè)試儀 9KHz-4.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—245雙端口測(cè)試儀 100KHz-4.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—4404端口測(cè)試儀 9KHz-4.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—4454端口測(cè)試儀 100KHz-4.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—280雙端口測(cè)試儀 9KHz-8.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—285雙端口測(cè)試儀 100KHz-8.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—4804端口測(cè)試儀 9KHz-8.5GHz 不帶偏置T型接頭
E5071C—4854端口測(cè)試儀 100KHz-8.5GHz 帶偏置T型接頭
E5071C—008頻率偏置模式
E5071C—010時(shí)域分析能力
E5071C—790測(cè)量向?qū)е周浖?/span>
E5071C—1E5高穩(wěn)定度時(shí)基
E5071C網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試方法
一.面板上常使用按鍵功能大概介紹如下:
Meas 打開(kāi)后顯示有:S11 S21 S12 S22 (S11 S22為反射,S21 S12 為傳輸)注意:駐波比和回波
損耗在反射功能測(cè)試,也就是說(shuō)在S11或者S22里面測(cè)試。
Format 打開(kāi)后顯示有:Log Mag———SWR———-里面有很多測(cè)試功能,如上這兩種是我們常用到的,Log
Mag為回波損耗測(cè)試,SWR 為駐波比測(cè)試。
Display打開(kāi)后顯示有:Num of Traces (此功能可以打開(kāi)多條測(cè)試線進(jìn)行同時(shí)測(cè)試多項(xiàng)指標(biāo),每一條測(cè)試線
可以跟據(jù)自己的需求選擇相對(duì)應(yīng)的指標(biāo),也就是說(shuō)一個(gè)產(chǎn)品我們可以同時(shí)測(cè)試駐波比和插入損耗或者更多的指
標(biāo))