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公司名稱(chēng)：深圳市賽特檢測(cè)有限公司（STT）

聯(lián)系人：小吳

聯(lián)系電話(huà)：18925271837（微信同號(hào)）

扣扣號(hào)：3492539620

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公司地址：深圳市龍華區(qū)新湖路28號(hào)

XRD測(cè)試/X射線(xiàn)衍射儀

測(cè)試原理

X射線(xiàn)衍射分析（X-ray diffraction，簡(jiǎn)稱(chēng)XRD），是利用晶體形成的X射線(xiàn)衍射，對(duì)物質(zhì)進(jìn)行內(nèi)部原子在空間分布狀況的結(jié)構(gòu)分析方法。

測(cè)試方法

表征材料的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力，進(jìn)行物相分析,定性分析和半定量分析.只有圖譜的標(biāo)準(zhǔn)卡，無(wú)對(duì)應(yīng)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。檢出限：1at%

粉末樣品---在硅片試樣臺(tái)上制樣，放入儀器中，設(shè)定測(cè)試參數(shù)，開(kāi)始測(cè)試。

塊狀樣品---切割成樣品臺(tái)大小，不超過(guò)2.5*2.5cm, 放入儀器中，設(shè)定測(cè)試參數(shù)，開(kāi)始測(cè)試。

樣品要求

塊狀或粉末樣品10g以上

塊體、金屬及薄膜樣品：需加工出一平整的表面，尺寸約為20mm×10mm×2mm

應(yīng)用領(lǐng)域

物相分析，可以對(duì)物質(zhì)的組成及物相進(jìn)行表征分析；

定性、定量分析，通過(guò)精修可對(duì)物質(zhì)的各組分進(jìn)行精確的定量分析；

高溫原位分析，通過(guò)高溫原位可以研究溫度對(duì)物質(zhì)晶型轉(zhuǎn)變的影響。

適用標(biāo)準(zhǔn)

通用標(biāo)準(zhǔn)和非通用標(biāo)準(zhǔn)都適用。

STT檢測(cè)嚴(yán)格按照CNAS認(rèn)可委的要求建設(shè)實(shí)驗(yàn)室，并依據(jù)ISO/IEC17025：2006進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室管理，遵循“公正、科學(xué)、準(zhǔn)確、高效”的準(zhǔn)則，依照IEC、ISO、IEEE、MIL、ASTM、J-STD、GJB、GB、SJ等國(guó)際、國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)，為企業(yè)提供專(zhuān)業(yè)檢測(cè)技術(shù)服務(wù)。

深圳市賽特檢測(cè)有限公司歡迎廣大客戶(hù)來(lái)電咨詢(xún)業(yè)務(wù)！