金相顯微鏡BX41M-LED |
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價格: 元(人民幣) | 產(chǎn)地:日本 |
最少起訂量:1臺 | 發(fā)貨地:全國全國 | |
上架時間:2018-04-20 10:51:58 | 瀏覽量:130 | |
濟南魯斯邁爾智能科技有限公司
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經(jīng)營模式:經(jīng)銷商 | 公司類型:私營有限責任公司 | |
所屬行業(yè):光學儀器 | 主要客戶:實驗用具 | |
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金相顯微鏡BX41M-LED 編號:BX41M-LED 產(chǎn)品說明: BX41M-LED 擁有ESD 防靜電功能,可以保護電子設備免受靜電、人體及實驗室內(nèi)的周邊環(huán)境或商店地面中的靜電的影響 暗視場觀察法 表面安裝板 暗視場可以讓用戶觀察來自樣本散射和衍射的光線。光源的光線會先穿過照明裝置中的環(huán)形光學照明器件,然后在樣本上聚焦。樣本上的光線只是由Z 軸上的瑕疵反射形成的。因此,用戶可以觀測到比 BX41M-LED 擁有ESD 防靜電功能,可以保護電子設備免受靜電、人體及實驗室內(nèi)的周邊環(huán)境或商店地面中的靜電的影響 暗視場觀察法
暗視場可以讓用戶觀察來自樣本散射和衍射的光線。光源的光線會先穿過照明裝置中的環(huán)形光學照明器件,然后在樣本上聚焦。樣本上的光線只是由Z 軸上的瑕疵反射形成的。因此,用戶可以觀測到比光學顯微鏡分辨極限更小的、8 nm 級的微小劃痕和缺陷。暗視場適合檢測樣本上的微小劃痕及瑕疵和檢查表面光滑的樣本,包括晶圓。 偏振光觀察法
該顯微觀察技術(shù)所使用的偏振光是由一組濾鏡(檢偏振器和起偏振器)產(chǎn)生的。樣本特征會直接影響系統(tǒng)反射光的強度。該觀察法適用于觀察金相組織(例,球墨鑄鐵中石墨的生長圖案)、礦物、LCD 和半導體材料。 微分干涉(DIC)觀察法
DIC 是一種顯微觀察技術(shù),可以將明視場觀察法中無法檢測到的高度差異,用增強的對比度以浮雕或三維圖像的形式表現(xiàn)出來。該項基于偏振光的技術(shù),擁有三個專門設計的棱鏡可供選擇以滿足用戶的需求。該觀察法適用于檢測高度差異極其微小的樣本,包括金相組織、礦物、磁頭研磨面和硬盤表面及晶圓研磨面。 熒光觀察法
該項技術(shù)適用于觀察那些在受到專門設計的濾鏡(可以按照檢測需要制作)照明時會發(fā)出熒光(發(fā)出不同波長的光線)的樣本。該方法通過熒光染色,應用于觀測半導體晶圓表面的污物、抗蝕劑的殘渣和裂痕的檢測。可以添加選購的復消色差光源聚光透鏡系統(tǒng),從而為可見光到近紅外線范圍內(nèi)的色差進行補償。 IR(紅外線)觀察法
對使用了硅片、玻璃等易透射紅外線的電子設備的內(nèi)部進行無損檢測時,IR 觀察十分有效。IR 物鏡也可用于近紅外線技術(shù),如:拉曼光譜儀和YGA 激光修復應用。 處理濾鏡
OLYMPUS Stream 擁有各種濾鏡,可用于邊緣檢測、平滑處理和其它操作。使用處理濾鏡在拍攝的圖像上進行增強和修改處理后,圖像的特征變?yōu)榭梢暬。為達到最佳效果,可使用預覽圖檢查或調(diào)整濾鏡的效果。 透射光觀察法
對于透明樣本,如,LCD、塑料和玻璃材料,可通過使用各種透射光聚光鏡實現(xiàn)真正的透射光觀察。使用透射光可以在明視場、暗視場、DIC 和偏振光中對樣本進行成像和檢查--所有這些都在一個便捷的系統(tǒng)里。 自動制作3D 圖像(EFI)
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