低溫存儲壽命試驗高低溫試驗低溫存放試驗低溫檢測報告 |
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價格: 元(人民幣) | 產地:不限 |
最少起訂量:1種 | 發(fā)貨地:本地至全國 | |
上架時間:2018-04-11 09:37:34 | 瀏覽量:112 | |
深圳市賽特檢測有限公司
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經營模式:商業(yè)服務 | 公司類型:其他有限責任公司 | |
所屬行業(yè):檢測服務 | 主要客戶:各行各業(yè) | |
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聯系人:吳工 (小姐) | 手機:18565637720 |
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公司名稱:深圳市賽特檢測有限公司(STT)
聯系人:小吳
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扣扣號:3492539620
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公司地址:深圳市龍華區(qū)新湖路28號
低溫存儲壽命試驗
實驗目的 為了考核低溫對試樣的影響,確定試樣在低溫條件下存儲的適應性。
實驗設備 該實驗一般用到高低溫試驗箱。 實驗原理 低溫條件下電子元器件的電參數會發(fā)生變化、材料變脆及其材料冷縮產生應力等。使電子元器件 處于低溫環(huán)境下一定時間,考核電子元器件的電參數是否發(fā)生變化、材料是否變脆、材料冷縮 產生應力有多大等,從而確定電子元器件抗低溫的能力。 實驗參考標準 JESD22-A119、IEC60068-2-1、GJB1864A-2011
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