| 產(chǎn)品內(nèi)部缺陷照片檢測(cè) |
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價(jià)格：0 元(人民幣) | 產(chǎn)地：無錫 |
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江蘇科海檢驗(yàn)有限公司
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聯(lián)系人：王經(jīng)理 手機(jī)/微信：18921293596 QQ：29527332 郵箱：hedy.wang@kehai-test.com 我公司提供工業(yè)CT探傷檢測(cè)，歡迎來電咨詢！ 工業(yè)CT探測(cè)器 目前常用的探測(cè)器主要有高分辨CMOS半導(dǎo)體芯片、平板探測(cè)器和閃爍探測(cè)器三種類型。半導(dǎo)體芯片具有最小的像素尺寸和最大的探測(cè)單元數(shù)，像素尺寸可小到10 μm左右。平板探測(cè)器通常用表面覆蓋數(shù)百微米的閃爍晶體(如CsI)的非晶態(tài)硅或非晶態(tài)硒做成，像素尺寸約127 μm，其圖像質(zhì)量接近于膠片照相。閃爍探測(cè)器的優(yōu)點(diǎn)是探測(cè)效率高，尤其在高能條件下，它可以達(dá)到16 ~ 20 bit的動(dòng)態(tài)范圍，且讀出速度在微秒量級(jí)。其主要缺點(diǎn)是像素尺寸較大，其相鄰間隔(節(jié)距)一般≥0. 1 mm。 |
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