| XPS測試_XPS檢測_X射線光電子能譜測試服務 |
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價格：1 元(人民幣) | 產地：廣州 |
| 最少起訂量：1樣 | 發(fā)貨地：廣州 | |
| 上架時間：2017-09-21 11:05:27 | 瀏覽量：182 | |
廣州化聯質量檢測技術有限公司
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| 經營模式：商業(yè)服務 | 公司類型：私營有限責任公司 | |
| 所屬行業(yè)：分析儀器 | 主要客戶：科研院所 | |
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原理 X射線光電子能譜（XPS），基于光電離作用，當一束光子輻射到樣品表面時，光子可以被樣品中某一元素的原子軌道上的電子所吸收，使該原子解脫原子核的束縛，以一定的動能從原子內部發(fā)射出來，變成自由的光電子，而原子本身則變成一個激發(fā)態(tài)的離子。當固定激發(fā)源能量時，其光電子的能量僅與元素的種類和所電離激發(fā)的原子軌道有關，由此根據光電子的結合能定性分析物質的元素種類。經X射線輻照后，從樣品表面射出的光電子的強度與樣品中該原子的濃度呈線性關系，可以進一步進行元素的半定量分析。另外，XPS的重要應用是對元素的化學價態(tài)進行分析。 儀器技術參數 離子源：100-4000eV 束斑直徑：1-10mm 濺射速率范圍：0.1-50nm/min 采樣深度：金屬0.5-2nm，無機物1-3nm，有機物3-10nm 送樣要求 固體粉末：均勻干燥，粒度小于70um（過200目），質量不少于100 mg； 塊體、金屬及薄膜樣，長寬小于10mm，高度小于5mm。 對含有揮發(fā)性、油污污染物的樣品許提前去除，絕對禁止分析帶有磁性的樣品。 應用 在化學、材料科學及表面科學中具有廣泛的應用價值。 1、 表面元素定性分析 2、 表面元素的半定量分析 3、 表面元素的化學價態(tài)分析 4、 元素沿深度方向的分布分析 常見譜圖
常見適用標準 ISO 16531-2013 表面化學分析.深度剖析.原子發(fā)射光譜(AES)和光電子能譜(XPS)中深度剖析用電流或電流密度的離子束校正和相關測量方法 專業(yè)、高效、精準、高性價比是廣州化聯質量檢測技術有限公司的服務宗旨。 |
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