現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試福田區(qū)EFT測(cè)試提供檢測(cè)與認(rèn)證服務(wù) |
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ESD的測(cè)試方法類似FAB里面的GOI測(cè)試,pin之后先給他一個(gè)ESD電壓,持續(xù)一段時(shí)間后,然后再回來(lái)測(cè)試電性看看是否損壞,沒(méi)問(wèn)題再去加一個(gè)step的ESD電壓再持續(xù)一段時(shí)間,再測(cè)電性,如此反復(fù)直至擊穿,此時(shí)的擊穿電壓為ESD擊穿的臨界電壓(ESD failure threshold Voltage)。通常我們都是給電路打三次電壓(3 zaps),為了降低測(cè)試周期,通常起始電壓用標(biāo)準(zhǔn)電壓的70 ESD threshold,每個(gè)step可以根據(jù)需要自己調(diào)整50V或者100V。 傳統(tǒng)上,幾乎所有EMC測(cè)試都在EMC實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行,環(huán)境噪音、溫度和濕度等測(cè)試條件要符合標(biāo)準(zhǔn)的要求。 這些試驗(yàn)通常在電波暗室和屏蔽室中進(jìn)行,試驗(yàn)設(shè)備可以按照需要進(jìn)行配置和操作。 EMI測(cè)試主要包含什么內(nèi)容? Radiated Emission -輻射擾測(cè)試 Conducted Emission-傳導(dǎo)擾測(cè)試 Harmonic-諧波電流擾測(cè)試 Flicker-電壓變化與閃爍測(cè)試 靜電放電測(cè)試、浪涌測(cè)試、EFT測(cè)試都屬于EMS(電磁敏感性)試驗(yàn),主要檢測(cè)電子設(shè)備受到外界的電磁能量,造成自身性能下降的容易程度。 |
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