RS輻射抗干擾測(cè)試鹽田區(qū)DIP測(cè)試提供檢測(cè)與認(rèn)證服務(wù) |
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EMI測(cè)試主要包含什么內(nèi)容? Radiated Emission -輻射擾測(cè)試 Conducted Emission-傳導(dǎo)擾測(cè)試 Harmonic-諧波電流擾測(cè)試 Flicker-電壓變化與閃爍測(cè)試 EMC性能是交流穩(wěn)壓電源的一項(xiàng)重要指標(biāo)要求;趯(duì)交流穩(wěn)壓電源使用價(jià)值的要求,其 EMC 性能應(yīng)當(dāng)是除了本身能達(dá)到較高嚴(yán)酷度等級(jí)的抗擾度指標(biāo)及合格的電磁干擾限制外,更重要的是要為其負(fù)載(對(duì) EMI 敏感的電子設(shè)備)提供充足的 EMC 安全裕度。 靜電放電測(cè)試(ESD試驗(yàn))到底有多重要? ESD 是一種常見(jiàn)的近場(chǎng)危害源,可形成高電壓,強(qiáng)電場(chǎng),瞬時(shí)大電流,并伴有強(qiáng)電磁輻射,形成靜電放電電磁脈沖,容易造成電子設(shè)備的損壞。 試驗(yàn)的目的主要是模擬交換機(jī)在實(shí)際使用過(guò)程中,遭遇 ESD靜電放電時(shí),功能和性能的真實(shí)情況。對(duì)于 IEC標(biāo)準(zhǔn),接觸放電測(cè)試是方式,但在實(shí)際的工作環(huán)境,空氣放電也較為常見(jiàn),因此一般的試驗(yàn),兩種測(cè)試方式都會(huì)同時(shí)做。 電磁兼容(Electro Magnetic Compatibility,簡(jiǎn)稱 EMC)是電工、電子產(chǎn)品重要的一項(xiàng)質(zhì)量指標(biāo)?梢哉J(rèn)為產(chǎn)品質(zhì)量主要由質(zhì)量規(guī)范與技術(shù)指標(biāo)兩大內(nèi)容構(gòu)成。前者涉及通用規(guī)范,即國(guó)際上 IEC,國(guó)內(nèi)由國(guó)家制訂的基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn);后者是產(chǎn)品功能的規(guī)定及其技術(shù)要求。電磁兼容與安全要求是基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn)。現(xiàn)在 EMC 已從基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)、通用標(biāo)準(zhǔn)、族標(biāo)準(zhǔn)、一直到產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),形成完備的體系。 |
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