CS測試福田區(qū)Flicker測試豐富的認(rèn)證經(jīng)驗(yàn)DL檢測 |
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為什么說絕大部分用電設(shè)備的損壞都與浪涌有關(guān)? 浪涌包括浪涌電壓和浪涌電流,即電壓或電流瞬間出現(xiàn)超出穩(wěn)定值的峰值。產(chǎn)生浪涌的主要原因有兩個(gè):電力系統(tǒng)的開關(guān)瞬間和雷電產(chǎn)生瞬間。 對于處在雷電頻繁地區(qū)的項(xiàng)目,雷雨天氣是難熬的時(shí)候,即使不直接擊中,雷電通常能夠產(chǎn)生強(qiáng)大的電壓和脈沖電流,給設(shè)備帶來致命的沖擊,甚至造成性的破壞。 浪涌試驗(yàn)的目的便是測試電氣和電子設(shè)備在遭受浪涌時(shí)的性能狀況,不同的設(shè)備和測試部位,測試方式與角度不盡相同, 因?yàn)槊}沖不僅成群出現(xiàn),還具有重復(fù)頻率高、波形上升時(shí)間短暫等特點(diǎn)。 因此很有可能因?yàn)槟畴娐返臋C(jī)械開關(guān),對電感性負(fù)載的切換,而對同一電路的其它電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾,所以交換機(jī)必須做實(shí)驗(yàn)。 試驗(yàn)的目的是驗(yàn)證由閃電、接地故障、電源開關(guān)動作、或電路中繼電器等電感性負(fù)載動作,而引起的瞬時(shí)擾動對整個(gè)控制回路中產(chǎn)生干擾時(shí),交換機(jī)的抗干擾能力。 電磁兼容(Electro Magnetic Compatibility,簡稱 EMC)是電工、電子產(chǎn)品重要的一項(xiàng)質(zhì)量指標(biāo)?梢哉J(rèn)為產(chǎn)品質(zhì)量主要由質(zhì)量規(guī)范與技術(shù)指標(biāo)兩大內(nèi)容構(gòu)成。前者涉及通用規(guī)范,即國際上 IEC,國內(nèi)由國家制訂的基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn);后者是產(chǎn)品功能的規(guī)定及其技術(shù)要求。電磁兼容與安全要求是基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn),F(xiàn)在 EMC 已從基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)、通用標(biāo)準(zhǔn)、族標(biāo)準(zhǔn)、一直到產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn),形成完備的體系。 高低溫測試僅是檢測交換機(jī)在不同溫度的運(yùn)行情況嗎? 事情沒這么簡單,如果試驗(yàn)中僅規(guī)定溫度而未規(guī)定濕度,工業(yè)交換機(jī)對此類溫度測試一般不會出現(xiàn)品質(zhì)問題,更考驗(yàn)產(chǎn)品的是高溫 高濕,因此除了溫度,還要調(diào)整相對濕度。 ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() ![]() |
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