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　　ESD的測試方法類似FAB里面的GOI測試，pin之后先給他一個(gè)ESD電壓，持續(xù)一段時(shí)間后，然后再回來測試電性看看是否損壞，沒問題再去加一個(gè)step的ESD電壓再持續(xù)一段時(shí)間，再測電性，如此反復(fù)直至擊穿，此時(shí)的擊穿電壓為ESD擊穿的臨界電壓(ESD failure threshold Voltage)。通常我們都是給電路打三次電壓(3 zaps)，為了降低測試周期，通常起始電壓用標(biāo)準(zhǔn)電壓的70 ESD threshold，每個(gè)step可以根據(jù)需要自己調(diào)整50V或者100V。

　　所謂 EMC，在 GB/T4365－1996《電磁兼容術(shù)語》中的定義是：設(shè)備或系統(tǒng)在其電磁環(huán)境中能正常工作且不對該環(huán)境中任何事物構(gòu)成不能承受的電磁擾的能力。該定義概括了 3 個(gè)方面的內(nèi)容。

　　其一，電磁擾的可限制性。電磁擾是普遍存在的，但可以用質(zhì)量規(guī)范約束，以技術(shù)手段限制它的危害性。這就是說應(yīng)當(dāng)對產(chǎn)品規(guī)定其向外發(fā)送電磁擾強(qiáng)度的限制值，以保證電磁環(huán)境合格。

　　其二，電磁擾的豁免性。這就是說產(chǎn)品在規(guī)定電磁擾強(qiáng)度的電磁環(huán)境下應(yīng)能正常工作而不應(yīng)降低其性能指標(biāo)。

　　其三，電磁環(huán)境的規(guī)范性和兼容性。即對電磁擾采取任何措施都不能使自身或使處于同一電磁環(huán)境的其它產(chǎn)品或系統(tǒng)性能下降，只能友好地“和平”共處。

　　靜電放電測試（ESD試驗(yàn)）到底有多重要？

　　ESD 是一種常見的近場危害源，可形成高電壓，強(qiáng)電場，瞬時(shí)大電流，并伴有強(qiáng)電磁輻射，形成靜電放電電磁脈沖，容易造成電子設(shè)備的損壞。

　　試驗(yàn)的目的主要是模擬交換機(jī)在實(shí)際使用過程中，遭遇 ESD靜電放電時(shí)，功能和性能的真實(shí)情況。對于 IEC標(biāo)準(zhǔn)，接觸放電測試是方式，但在實(shí)際的工作環(huán)境，空氣放電也較為常見，因此一般的試驗(yàn)，兩種測試方式都會(huì)同時(shí)做。

　　EMC性能是交流穩(wěn)壓電源的一項(xiàng)重要指標(biāo)要求�；趯涣鞣�(wěn)壓電源使用價(jià)值的要求，其 EMC 性能應(yīng)當(dāng)是除了本身能達(dá)到較高嚴(yán)酷度等級的抗擾度指標(biāo)及合格的電磁干擾限制外，更重要的是要為其負(fù)載（對 EMI 敏感的電子設(shè)備）提供充足的 EMC 安全裕度。