| 日本yamabun薄膜、片材實(shí)驗(yàn)用離線接觸式測厚儀TOF-4R05 |
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價(jià)格：6.80 元(人民幣) | 產(chǎn)地：廣東深圳 |
| 最少起訂量：1 | 發(fā)貨地：廣東深圳 | |
| 上架時(shí)間：2024-09-20 18:10:48 | 瀏覽量：6 | |
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日本yamabun薄膜、片材臺式離線接觸式測厚儀TOF-4R05
模型測量方法測量對象測量原理
產(chǎn)品特點(diǎn)
產(chǎn)品規(guī)格測量厚度測量長度測量間距最小顯示值測量壓力電源電壓工作溫度限制濕度能量消耗選項(xiàng)
? 型號：TOF-4R05測量方法 聯(lián)系方式 線規(guī)/夾取法 測量對象薄膜、片材測量厚度0.03 至 3 毫米 型號：TOF-5R01測量方法 聯(lián)系方式 線性規(guī) 測量對象電影測量厚度0.02-0.2毫米 型號：TOF-6R001測量方法 聯(lián)系方式 線性規(guī) 測量對象薄膜高精度塑料薄膜（聚酰亞胺薄膜、光學(xué)薄膜等）測量厚度5-100微米 型號：TOF-C2 * TOF-C 的后續(xù)型號測量方法 非接觸式 電容式 測量對象薄膜、粘性保護(hù)膜、易附著灰塵的薄膜測量厚度~ 500 微米 型號：TOF-S測量方法 非接觸式 光譜干涉儀 測量對象電子、光學(xué)用透明平滑膜、多層膜測量厚度1 至 50 μm（用于薄材料） 型號：TOF-M測量方法 聯(lián)系方式 線性規(guī) 測量對象鋼板或鋁板等金屬板測量厚度0.1-0.5毫米 ? ? |
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