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　　EMI測(cè)試主要包含什么內(nèi)容?

　　Radiated Emission -輻射擾測(cè)試

　　Conducted Emission-傳導(dǎo)擾測(cè)試

　　Harmonic-諧波電流擾測(cè)試

　　Flicker-電壓變化與閃爍測(cè)試

　　EMC性能是交流穩(wěn)壓電源的一項(xiàng)重要指標(biāo)要求�；趯�(duì)交流穩(wěn)壓電源使用價(jià)值的要求，其 EMC 性能應(yīng)當(dāng)是除了本身能達(dá)到較高嚴(yán)酷度等級(jí)的抗擾度指標(biāo)及合格的電磁干擾限制外，更重要的是要為其負(fù)載（對(duì) EMI 敏感的電子設(shè)備）提供充足的 EMC 安全裕度。

　　電磁兼容（Electro Magnetic Compatibility，簡(jiǎn)稱 EMC）是電工、電子產(chǎn)品重要的一項(xiàng)質(zhì)量指標(biāo)�？梢哉J(rèn)為產(chǎn)品質(zhì)量主要由質(zhì)量規(guī)范與技術(shù)指標(biāo)兩大內(nèi)容構(gòu)成。前者涉及通用規(guī)范，即國(guó)際上 IEC，國(guó)內(nèi)由國(guó)家制訂的基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn)；后者是產(chǎn)品功能的規(guī)定及其技術(shù)要求。電磁兼容與安全要求是基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn)�，F(xiàn)在 EMC 已從基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)、通用標(biāo)準(zhǔn)、族標(biāo)準(zhǔn)、一直到產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，形成完備的體系。

　　為什么說(shuō)絕大部分用電設(shè)備的損壞都與浪涌有關(guān)？

　　浪涌包括浪涌電壓和浪涌電流，即電壓或電流瞬間出現(xiàn)超出穩(wěn)定值的峰值。產(chǎn)生浪涌的主要原因有兩個(gè)：電力系統(tǒng)的開關(guān)瞬間和雷電產(chǎn)生瞬間。

　　對(duì)于處在雷電頻繁地區(qū)的項(xiàng)目，雷雨天氣是難熬的時(shí)候，即使不直接擊中，雷電通常能夠產(chǎn)生強(qiáng)大的電壓和脈沖電流，給設(shè)備帶來(lái)致命的沖擊，甚至造成性的破壞。

　　浪涌試驗(yàn)的目的便是測(cè)試電氣和電子設(shè)備在遭受浪涌時(shí)的性能狀況，不同的設(shè)備和測(cè)試部位，測(cè)試方式與角度不盡相同，