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　　高頻介電常數(shù)測試儀 介質損耗測試儀 微波介電常數(shù)測試儀

　　主要技術特性：

　　介質損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質，通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε)，可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標準頻率測試點自動設定，諧振點自動搜索，Q值量程自動轉換，數(shù)值顯示等新技術，改進了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至低，并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術，使得新儀器在使用時更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

　　使用方法

　　高頻Q表是多用途的阻抗測量儀器，為了提高測量精度，除了使Q表測試回路本身殘余參量盡可能地小，使耦合回路的頻響盡可能地好之外，還要掌握正確的測試方法和殘余參數(shù)修正方法。

　　1．測試注意事項

　　a．本儀器應水平安放；

　　b．如果你需要較精確地測量，請接通電源后，預熱30分鐘；

　　c．調節(jié)主調電容或主調電容數(shù)碼開關時，當接近諧振點時請緩調；

　　d．被測件和測試電路接線柱間的接線應盡量短，足夠粗，并應接觸良好、可靠，以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來的測量誤差；

　　e．被測件不要直接擱在面板頂部，離頂部一公分以上，必要時可用低損耗的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊；

　　f．手不得靠近試件，以免人體感應影響造成測量誤差，有屏蔽的試件，屏蔽罩應連接在低電位端的接線柱。

　　2．高頻線圈的Q值測量（基本測量法）

　　技術參數(shù)：

　　1．Q值測量

　　a．Q值測量范圍：2～1023。

　　b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。

　　c．標稱誤差

　　頻率范圍（100kHz～10MHz）： 頻率范圍（10MHz～160MHz）：

　　固有誤差：≤5％±滿度值的2 固有誤差：≤6％±滿度值的2

　　工作誤差：≤7％±滿度值的2 工作誤差：≤8％±滿度值的2

　　2．電感測量范圍：4.5nH~7.9mH

　　3．電容測量：1~205

　　主電容調節(jié)范圍：18～220pF

　　準確度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1

　　注：大于直接測量范圍的電容測量見后頁使用說明

　　4. 信號源頻率覆蓋范圍

　　頻率范圍CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,

　　CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,

　　5．Q合格指示預置功能: 預置范圍：5～1000。

　　6．B-測試儀正常工作條件

　　a. 環(huán)境溫度：0℃～ 40℃；

　　b．相對濕度 lt;80％；

　　c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。