| CS傳導(dǎo)抗干擾測(cè)試坪山RE測(cè)試檢測(cè)與認(rèn)證服務(wù)商 |
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深圳市德萊檢測(cè)技術(shù)有限公司
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因?yàn)镋FT脈沖不僅成群出現(xiàn)，還具有重復(fù)頻率高、波形上升時(shí)間短暫等特點(diǎn)。 因此很有可能因?yàn)槟畴娐返臋C(jī)械開(kāi)關(guān)，對(duì)電感性負(fù)載的切換，而對(duì)同一電路的其它電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾，所以交換機(jī)必須做EFT實(shí)驗(yàn)。 試驗(yàn)的目的是驗(yàn)證由閃電、接地故障、電源開(kāi)關(guān)動(dòng)作、或電路中繼電器等電感性負(fù)載動(dòng)作，而引起的瞬時(shí)擾動(dòng)對(duì)整個(gè)控制回路中產(chǎn)生干擾時(shí)，交換機(jī)的抗干擾能力。
傳統(tǒng)上，幾乎所有EMC測(cè)試都在EMC實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行，環(huán)境噪音、溫度和濕度等測(cè)試條件要符合標(biāo)準(zhǔn)的要求。 這些試驗(yàn)通常在電波暗室和屏蔽室中進(jìn)行，試驗(yàn)設(shè)備可以按照需要進(jìn)行配置和操作。
ESD的測(cè)試方法類(lèi)似FAB里面的GOI測(cè)試，pin之后先給他一個(gè)ESD電壓，持續(xù)一段時(shí)間后，然后再回來(lái)測(cè)試電性看看是否損壞，沒(méi)問(wèn)題再去加一個(gè)step的ESD電壓再持續(xù)一段時(shí)間，再測(cè)電性，如此反復(fù)直至擊穿，此時(shí)的擊穿電壓為ESD擊穿的臨界電壓(ESD failure threshold Voltage)。通常我們都是給電路打三次電壓(3 zaps)，為了降低測(cè)試周期，通常起始電壓用標(biāo)準(zhǔn)電壓的70 ESD threshold，每個(gè)step可以根據(jù)需要自己調(diào)整50V或者100V。
EMI測(cè)試主要包含什么內(nèi)容? Radiated Emission -輻射擾測(cè)試 Conducted Emission-傳導(dǎo)擾測(cè)試 Harmonic-諧波電流擾測(cè)試 Flicker-電壓變化與閃爍測(cè)試
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