美國(guó)Zeta-20臺(tái)式光學(xué)輪廓儀 |
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價(jià)格:250.00 元(人民幣) | 產(chǎn)地:北京 |
最少起訂量:1 | 發(fā)貨地:北京 | |
上架時(shí)間:2024-06-12 11:22:48 | 瀏覽量:22 | |
北京億誠(chéng)恒達(dá)科技有限公司
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經(jīng)營(yíng)模式:代理商 | 公司類型:私營(yíng)有限責(zé)任公司 | |
所屬行業(yè):分析儀器 | 主要客戶:科研院所 | |
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聯(lián)系人:李娜 (小姐) | 手機(jī):13167526845 |
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傳真: |
郵箱:selina@jhonors.com | 地址:北京市海淀區(qū)清河三街95號(hào)同源大廈929 |
Zeta-20臺(tái)式光學(xué)輪廓儀是非接觸式3D表面形貌測(cè)量系統(tǒng)。?該系統(tǒng)采用ZDot? 技術(shù)和Multi-Mode (多模式)光學(xué)系統(tǒng),可以對(duì)各種不同的樣品進(jìn)行測(cè)量:透明和不透明、由低至高的反射率、由光滑至粗糙的紋理,以及納米至毫米級(jí)別的臺(tái)階高度。 Zeta-20的配置靈活并易于使用,并集合了六種不同的光學(xué)量測(cè)技術(shù)。ZDot?測(cè)量模式可同時(shí)采集高分辨率3D數(shù)據(jù)和True Color(真彩) 遠(yuǎn)焦點(diǎn)圖像。其他3D測(cè)量技術(shù)包括白光干涉測(cè)量、Nomarski干涉對(duì)比顯微鏡和剪切干涉測(cè)量。?ZDot或集成寬帶反射儀都可以對(duì)薄膜厚度進(jìn)行測(cè)量。?Zeta-20也是一種 顯微鏡,可用于樣品復(fù)檢或自動(dòng)缺陷檢測(cè)。?Zeta-20通過(guò)提供 的臺(tái)階高度、粗糙度和薄膜厚度的測(cè)量以及缺陷檢測(cè)功能,適用于研發(fā)及生產(chǎn)環(huán)境。 |
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