日本島津超聲波光學(xué)探傷儀MIV-X金屬表面探傷儀內(nèi)部缺陷檢查裝置 |
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該產(chǎn)品的貨期&價(jià)格請與客服咨詢?yōu)闇?zhǔn)!謝謝! ? 島津Shimadzu超聲波光探傷裝置MIV-X基于島津獨(dú)有的光學(xué)成像技術(shù),將超聲波振子和頻閃觀測器相結(jié)合,可以輕松、無損地檢測材料近表面的缺陷,包括不同材料的粘接剝落、以及油漆、熱噴涂和涂層等。 1、島津獨(dú)有的光學(xué)成像技術(shù):超聲波光探傷技術(shù)是通過激勵(lì)試樣表面,并以光學(xué)方式檢測表面位移,從而觀測超聲波在表面?zhèn)鞑デ闆r的技術(shù)。 2、任何人都能快速、簡單的執(zhí)行視覺表面檢查:只需簡單的將超聲波振蕩器放置于樣品上,然后調(diào)整相機(jī)位置;短時(shí)間內(nèi)即可顯示超聲波的傳輸情況,并且從視頻中輕松識別缺陷;軟件功能豐富、操作簡單,標(biāo)記缺陷、測量尺寸等功能顯著增強(qiáng)。 3、與超聲波探傷的區(qū)別(UT):超聲波光探傷裝置MIV-X可彌補(bǔ)超聲波檢測(UT)難以檢測的區(qū)域, 擅長表面和近表面區(qū)域檢測。 Make It Visible!
廣泛應(yīng)用于各個(gè)行業(yè): 超聲波光學(xué)探傷可以使傳統(tǒng)超聲檢測難以發(fā)現(xiàn)的內(nèi)部缺陷(深度約1 mm)可視化。在涉及多種材料的研發(fā)過程中,它可以輕松檢測接頭和粘合表面的缺陷,這些缺陷是由組合不同的材料來增加強(qiáng)度和減輕重量而產(chǎn)生的。 |
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