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深圳市德萊檢測(cè)技術(shù)有限公司
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靜電放電測(cè)試（ESD試驗(yàn)）到底有多重要？ ESD 是一種常見(jiàn)的近場(chǎng)危害源，可形成高電壓，強(qiáng)電場(chǎng)，瞬時(shí)大電流，并伴有強(qiáng)電磁輻射，形成靜電放電電磁脈沖，容易造成電子設(shè)備的損壞。 試驗(yàn)的目的主要是模擬交換機(jī)在實(shí)際使用過(guò)程中，遭遇 ESD靜電放電時(shí)，功能和性能的真實(shí)情況。對(duì)于 IEC標(biāo)準(zhǔn)，接觸放電測(cè)試是方式，但在實(shí)際的工作環(huán)境，空氣放電也較為常見(jiàn)，因此一般的試驗(yàn)，兩種測(cè)試方式都會(huì)同時(shí)做。
靜電放電測(cè)試、浪涌測(cè)試、測(cè)試都屬于EMS（電磁敏感性）試驗(yàn)，主要檢測(cè)電子設(shè)備受到外界的電磁能量，造成自身性能下降的容易程度。
為什么說(shuō)絕大部分用電設(shè)備的損壞都與浪涌有關(guān)？ 浪涌包括浪涌電壓和浪涌電流，即電壓或電流瞬間出現(xiàn)超出穩(wěn)定值的峰值。產(chǎn)生浪涌的主要原因有兩個(gè)：電力系統(tǒng)的開(kāi)關(guān)瞬間和雷電產(chǎn)生瞬間。 對(duì)于處在雷電頻繁地區(qū)的項(xiàng)目，雷雨天氣是難熬的時(shí)候，即使不直接擊中，雷電通常能夠產(chǎn)生強(qiáng)大的電壓和脈沖電流，給設(shè)備帶來(lái)致命的沖擊，甚至造成性的破壞。 浪涌試驗(yàn)的目的便是測(cè)試電氣和電子設(shè)備在遭受浪涌時(shí)的性能狀況，不同的設(shè)備和測(cè)試部位，測(cè)試方式與角度不盡相同，
EMI測(cè)試主要包含什么內(nèi)容? Radiated Emission -輻射擾測(cè)試 Conducted Emission-傳導(dǎo)擾測(cè)試 Harmonic-諧波電流擾測(cè)試 Flicker-電壓變化與閃爍測(cè)試
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