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　　靜電放電測(cè)試、浪涌測(cè)試、EFT測(cè)試都屬于EMS（電磁敏感性）試驗(yàn)，主要檢測(cè)電子設(shè)備受到外界的電磁能量，造成自身性能下降的容易程度。

　　為什么說絕大部分用電設(shè)備的損壞都與浪涌有關(guān)？

　　浪涌包括浪涌電壓和浪涌電流，即電壓或電流瞬間出現(xiàn)超出穩(wěn)定值的峰值。產(chǎn)生浪涌的主要原因有兩個(gè)：電力系統(tǒng)的開關(guān)瞬間和雷電產(chǎn)生瞬間。

　　對(duì)于處在雷電頻繁地區(qū)的項(xiàng)目，雷雨天氣是難熬的時(shí)候，即使不直接擊中，雷電通常能夠產(chǎn)生強(qiáng)大的電壓和脈沖電流，給設(shè)備帶來致命的沖擊，甚至造成性的破壞。

　　浪涌試驗(yàn)的目的便是測(cè)試電氣和電子設(shè)備在遭受浪涌時(shí)的性能狀況，不同的設(shè)備和測(cè)試部位，測(cè)試方式與角度不盡相同，

　　電磁兼容（Electro Magnetic Compatibility，簡(jiǎn)稱 EMC）是電工、電子產(chǎn)品重要的一項(xiàng)質(zhì)量指標(biāo)�？梢哉J(rèn)為產(chǎn)品質(zhì)量主要由質(zhì)量規(guī)范與技術(shù)指標(biāo)兩大內(nèi)容構(gòu)成。前者涉及通用規(guī)范，即國(guó)際上 IEC，國(guó)內(nèi)由國(guó)家制訂的基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn)；后者是產(chǎn)品功能的規(guī)定及其技術(shù)要求。電磁兼容與安全要求是基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn)�，F(xiàn)在 EMC 已從基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)、通用標(biāo)準(zhǔn)、族標(biāo)準(zhǔn)、一直到產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，形成完備的體系。

　　國(guó)際上還有為此專門立法。如歐洲聯(lián)盟已制訂法規(guī)，規(guī)定從 1996 年 1 月 1 日起，電工、電子產(chǎn)品必須取得低壓管理（LVDirecTIve）與電磁兼容管理（EMCDirecTIve）合格認(rèn)定后，才能在市場(chǎng)上銷售。這些年來不斷有新的 EMC 標(biāo)準(zhǔn)在國(guó)內(nèi)正式發(fā)布。但要指出的是，IEC 有關(guān) EMC 標(biāo)準(zhǔn)將不斷從草案或舊版本上升為正式版本，國(guó)家有關(guān) EMC 標(biāo)準(zhǔn)也將不斷更新、發(fā)布，有關(guān) EMC 測(cè)試應(yīng)以新版本為準(zhǔn)。