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高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備的用途

　　該設(shè)備主要適用于電工、電子產(chǎn)品，塑膠材料、紙品印刷、金屬、原器件及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過檢測(cè)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以供產(chǎn)品質(zhì)量生產(chǎn)及出廠檢驗(yàn)用。

高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備的結(jié)構(gòu)特征

　　1、內(nèi)壁：進(jìn)口SUS304不銹鋼

　　2、外殼：冷軋板靜電噴涂

　　3、保溫材料：硬質(zhì)聚氨脂發(fā)泡或超細(xì)玻璃棉，具有保溫性有好等特點(diǎn)

　　4、密封：進(jìn)口硅膠密封條

　　5、控溫濕方式：BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕

　　6、溫濕度調(diào)節(jié)儀：韓國(guó)智能數(shù)顯TIMI-880整定調(diào)節(jié)儀

　　7、加熱：不銹鋼翅片空氣加熱

　　8、冷機(jī)：原裝進(jìn)口全封閉壓縮機(jī)，機(jī)械式單級(jí)制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)

　　9、測(cè)試孔:機(jī)體左側(cè)50mm孔1只,附不銹鋼孔蓋1只,硅膠塞頭1只

該設(shè)備是按下列標(biāo)準(zhǔn)制造

　　GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB2423、1-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

　　GB2423、2-89電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

　　GB2424、1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

　　GB/T5170、2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法

主要技術(shù)參數(shù)

高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備的安全保護(hù)裝置

　　1、電源超載、控制回路過載、短路保護(hù)

　　2、接地保護(hù)、電機(jī)過載保護(hù)

　　3、超溫保護(hù)

　　4、為保護(hù)設(shè)備,所有報(bào)警均會(huì)自動(dòng)切斷電源，并發(fā)出聲訊提示。

高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備的使用現(xiàn)場(chǎng)條件

　　1、溫度：5℃~35℃

　　2、相對(duì)濕度：不大于85RH

　　3、周圍無(wú)強(qiáng)烈振動(dòng)、無(wú)強(qiáng)烈電磁場(chǎng)影響

　　4、周圍無(wú)高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)

　　5、無(wú)陽(yáng)光直接照射或其它熱源直接輻射

　　6、周圍無(wú)強(qiáng)烈氣流，當(dāng)周圍空氣需要強(qiáng)制流時(shí)，氣流不應(yīng)直接吹