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TEKTRONIX 泰克KEITHLEY 4200A-SCS 參數(shù)分析儀

Tektronix 泰克

Tektronix 泰克Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀產(chǎn)品介紹：

產(chǎn)品型號(hào)：Keithley 4200A-SCS
產(chǎn)品品牌：Tektronix 泰克
產(chǎn)品類別：分析儀
產(chǎn)品備注：參數(shù)分析儀

Tektronix 泰克Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

使用 4200A-SCS 加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開(kāi)發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測(cè)量。

Tektronix 泰克Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀產(chǎn)品

大膽發(fā)現(xiàn)從未如此簡(jiǎn)單。 4200A-SCS 參數(shù)分析儀可將檢定和測(cè)試設(shè)置的復(fù)雜程度降低高達(dá) 50，提供清晰且不折不扣的測(cè)量和分析功能。 另外，嵌入式測(cè)量 知識(shí)（ ）可提供測(cè)試指南并讓您對(duì)結(jié)果充滿信心。

特點(diǎn)

• 內(nèi)置英語(yǔ)，中文，日語(yǔ)和韓語(yǔ)版本的測(cè)量視頻

• 使用數(shù)百個(gè)用戶可修改應(yīng)用測(cè)試開(kāi)始您的測(cè)試

• 自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)

測(cè)量、 切換、 重復(fù)

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動(dòng)在 I-V 和 C-V 測(cè)量之間切換，無(wú)需重新布線或抬起探頭端部。 與競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測(cè)試設(shè)置，并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時(shí)輕松排除故障。

特點(diǎn)

• 無(wú)需重新布線即可將 C-V 測(cè)量移動(dòng)到任何設(shè)備終端

• 用戶可配置低電流功能

• 個(gè)性化輸出通道名稱

• 查看實(shí)時(shí)測(cè)試狀態(tài)

穩(wěn)定的低電流測(cè)量，適用于 I-V 檢定

使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模塊，您可以在高電容系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的低電流測(cè)量。4200A-SCS 有四種型號(hào)的源測(cè)量單位 (SMU) 可供選擇，可通過(guò)定制滿足您所有的 I-V 測(cè)量需求。通過(guò)提供現(xiàn)場(chǎng)可安裝單元和可選的預(yù)放大器模塊，Keithley 可確保您獲得*準(zhǔn)確的低電流測(cè)量，而停機(jī)時(shí)間很少甚至沒(méi)有。

特點(diǎn)

• 不必將儀器送回工廠即可增加 SMU

• 進(jìn)行 飛安測(cè)量

• 多達(dá) 9 個(gè) SMU 通道

• 針對(duì)長(zhǎng)電纜或大卡盤進(jìn)行了優(yōu)化

帶分析探測(cè)器和低溫控制器的集成解決方案。

4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動(dòng)和半自動(dòng)晶片探測(cè)器和低溫控制器，包括 MPI Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點(diǎn)

• “點(diǎn)擊”測(cè)試定序

• “手動(dòng)”探測(cè)器模式測(cè)試探測(cè)器功能

• 假探測(cè)器模式無(wú)需移除命令即可實(shí)現(xiàn)調(diào)試

降 并保護(hù)您的投資

吉時(shí)利保障計(jì)劃以按需服務(wù)事件的一小部分 提供快速、高質(zhì)量的服務(wù)。 只需點(diǎn)擊一下或撥打一個(gè)電話即可獲得維修服務(wù)，在此過(guò)程中，無(wú)需或填寫采購(gòu)單，也不會(huì)有審批延誤。

Tektronix 泰克Keithley 4200A-SCS 參數(shù)分析儀產(chǎn)品應(yīng)用：

半導(dǎo)體可靠性

在執(zhí)行復(fù)雜的可靠性測(cè)試時(shí)，4200A-SCS 可以幫您處理復(fù)雜的工作。包括諸如熱載流子注入降解 (HCI) 和負(fù)偏置溫度不穩(wěn)定性 (NBTI) 之類的項(xiàng)目，可幫助您快速進(jìn)行器件分析。對(duì)于大型實(shí)驗(yàn)室，4200-BTI 套件隨附支持網(wǎng)站地圖繪制和自動(dòng)探測(cè)器控制功能的 Keithley ACS 軟件。

特點(diǎn)

• 只需一組測(cè)試，即可滿足您的直流 I-V、C-V 和脈沖測(cè)量需求

• 支持多種探頭站和外部?jī)x器

• 循環(huán)系統(tǒng)易于使用，允許在無(wú)需編碼的情況下重復(fù)測(cè)試

提供適合高阻抗應(yīng)用的 C-V 測(cè)量功能

采用 Keithley 的自定義極低頻 C-V 技術(shù)分析高電阻樣本的電容。 該技術(shù)可通過(guò)僅使用源測(cè)量單元 (SMU) 儀器實(shí)現(xiàn)應(yīng)用，同時(shí)可與 4210-CVU 結(jié)合使用，執(zhí)行更高頻率測(cè)量。

特點(diǎn)

• .01 ~ 10 Hz 頻率范圍，1 pF ~ 10 nF 靈敏度

• 3? 位典型分辨率，*小典型值 10 fF

非易失內(nèi)存

通過(guò) 脈沖 I-V 檢定在測(cè)試中利用新技術(shù)。 4200A-SCS 為*新 NVRAM 技術(shù)提供支持和即用型測(cè)試，從浮動(dòng)門電路閃存到 ReRAM 和 FeRAM，不一而足。 電流和電壓雙源和測(cè)量功能同時(shí)支持瞬態(tài)和 I-V 域檢定。

使用長(zhǎng)電纜或電容式夾具時(shí)進(jìn)行測(cè)試

當(dāng)測(cè)試需要非常長(zhǎng)的電纜或具有較高電容的夾具時(shí)，請(qǐng)使用 4201 或4211-SMU。這些 SMU 非常適合連接 LCD 測(cè)試站、探測(cè)器、開(kāi)關(guān)矩陣或任何其他大型或復(fù)雜的測(cè)試儀�，F(xiàn)場(chǎng)可安裝版本使您無(wú)需將設(shè)備返回服務(wù)中心即可增加容量。

納米級(jí)設(shè)備檢定

4200A-SCS 的集成儀器功能可簡(jiǎn)化碳納米管等納米級(jí)電子器件開(kāi)發(fā)方面的測(cè)量要求。 從預(yù)配置測(cè)試項(xiàng)目開(kāi)始著手，逐步擴(kuò)大您的研究工作范圍。 SMU 的脈沖源模式可幫助緩解過(guò)熱問(wèn)題，數(shù)秒內(nèi)即可完成與低電壓 C-V 和