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美國(guó)奧林巴斯Olympus 38DL PLUS超聲波測(cè)厚儀技術(shù)規(guī)格：



測(cè)量

雙晶探頭測(cè)量模式

從激勵(lì)脈沖后延時(shí)到個(gè)回波之間的時(shí)間間隔。

穿透涂層測(cè)量模式

利用單個(gè)底面回波（使用D7906-SM和D7908探頭），測(cè)量金屬的實(shí)際厚度和涂層厚度。

穿透漆層回波到回波測(cè)量模式

在兩個(gè)連續(xù)底面回波之間的時(shí)間間隔，不計(jì)漆層或涂層的厚度。

單晶探頭測(cè)量模式

模式1：激勵(lì)脈沖與個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔。
模式2：延遲線回波與個(gè)底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。
模式3：在激勵(lì)脈沖之后，位于個(gè)表面回波后的相鄰底面回波之間的時(shí)間間隔（使用延遲線式或水浸式探頭）。
氧化層模式：可選。
多層模式：可選。

厚度范圍

0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定。

材料聲速范圍

0.508 mm/μs～13.998 mm/μs

分辨率（可選擇）

低分辨率：0.1毫米
標(biāo)準(zhǔn)分辨率：0.01毫米
高分辨率（可選項(xiàng)）：0.001毫米

探頭頻率范圍

標(biāo)準(zhǔn)：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB）
高穿透（可選項(xiàng)）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB）