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　　ESD的測試方法類似FAB里面的GOI測試，pin之后先給他一個ESD電壓，持續(xù)一段時間后，然后再回來測試電性看看是否損壞，沒問題再去加一個step的ESD電壓再持續(xù)一段時間，再測電性，如此反復(fù)直至擊穿，此時的擊穿電壓為ESD擊穿的臨界電壓(ESD failure threshold Voltage)。通常我們都是給電路打三次電壓(3 zaps)，為了降低測試周期，通常起始電壓用標(biāo)準(zhǔn)電壓的70 ESD threshold，每個step可以根據(jù)需要自己調(diào)整50V或者100V。

　　我們?nèi)绾闻袛郋MS試驗結(jié)果的好壞呢？

　　對于 EMS（電磁敏感性）試驗，其性能判斷依據(jù)可分為四個等級：

　　A 級：試驗中性能指標(biāo)正常；

　　B 級：試驗中性能暫時降低，功能不喪失，試驗后能自行恢復(fù)；

　　C 級：功能允許喪失，但能自恢復(fù)，或操作者干預(yù)后能恢復(fù)；

　　R 級：除保護(hù)元件外，不允許出現(xiàn)因設(shè)備（元件）或軟件損壞或數(shù)據(jù)丟失而造成不能恢復(fù)的功能喪失或性能降低。

　　電磁兼容（Electro Magnetic Compatibility，簡稱 EMC）是電工、電子產(chǎn)品重要的一項質(zhì)量指標(biāo)。可以認(rèn)為產(chǎn)品質(zhì)量主要由質(zhì)量規(guī)范與技術(shù)指標(biāo)兩大內(nèi)容構(gòu)成。前者涉及通用規(guī)范，即國際上 IEC，國內(nèi)由國家制訂的基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn)；后者是產(chǎn)品功能的規(guī)定及其技術(shù)要求。電磁兼容與安全要求是基礎(chǔ)性標(biāo)準(zhǔn)�，F(xiàn)在 EMC 已從基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)、通用標(biāo)準(zhǔn)、族標(biāo)準(zhǔn)、一直到產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，形成完備的體系。

　　靜電放電測試（ESD試驗）到底有多重要？

　　ESD 是一種常見的近場危害源，可形成高電壓，強(qiáng)電場，瞬時大電流，并伴有強(qiáng)電磁輻射，形成靜電放電電磁脈沖，容易造成電子設(shè)備的損壞。

　　試驗的目的主要是模擬交換機(jī)在實(shí)際使用過程中，遭遇 ESD靜電放電時，功能和性能的真實(shí)情況。對于 IEC標(biāo)準(zhǔn)，接觸放電測試是方式，但在實(shí)際的工作環(huán)境，空氣放電也較為常見，因此一般的試驗，兩種測試方式都會同時做。