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QFN520.4測試座國產(chǎn)替代790-61052-101T用于老化老煉燒錄調(diào)試 2025-02-11

LCC48-0.5老化座定制MEMS加速度計8.5x8.5尺寸芯片測試HAST、HTOL 2025-02-11

LCC4-0.8老化座微小雙極晶體管BipolarTransistors器件老化調(diào)試 2025-02-11

QFP320.8翻蓋老化座燒錄MCU測試調(diào)試適配RT809HT56T48編程器 2025-02-11

TO252-3L50A電流脈沖測試座高壓大電流快速調(diào)試檢測 HMILU牌的TO252-3L50A電流脈沖測試座高壓大電流快速調(diào)試檢測產(chǎn)品：估價：3685.00，規(guī)格：TO252-3L50A電流脈沖測試座，產(chǎn)品系列編號：TO252-3L50A電流脈沖測試座 2025-02-11

QFN68-0.35非標老化座下壓結(jié)構(gòu)IC測試座架構(gòu)單邊16pin與18Pin 2025-02-11

EMMC169\/153現(xiàn)代H26M21001DAR金點測試座\/老化座\/nandflash HMILU牌的EMMC169\/153現(xiàn)代H26M21001DAR金點測試座\/老化座\/nandflash產(chǎn)品：估價：850.00，規(guī)格：完善，產(chǎn)品系列編號：齊全 2025-02-11

DDR3內(nèi)存條測試治具8位顆粒一拖八導電膠測試夾具芯片測試性能 鴻怡電子牌的DDR3內(nèi)存條測試治具8位顆粒一拖八導電膠測試夾具芯片測試性能產(chǎn)品：估價：4500.00，規(guī)格：完善，產(chǎn)品系列編號：齊全 2025-02-11

QFN48-0.35HAST測試座5x5mm燒錄調(diào)試用途0092TGH可AEC-Q100測試 2025-02-11

DDR3x8一拖八合金內(nèi)存條測試治具內(nèi)存條測試夾具78Ball高壽命 鴻怡電子牌的DDR3x8一拖八合金內(nèi)存條測試治具內(nèi)存條測試夾具78Ball高壽命產(chǎn)品：估價：3200.00，規(guī)格：1，產(chǎn)品系列編號：1 2025-02-11