美國Bowman鍍層測厚儀標準片憑借質(zhì)量高，價格實惠。搭配博曼XRF鍍層測厚儀，可校準任何X射線熒光（XRF）涂層厚度和成分分析系統(tǒng)。
又稱標準箔，膜厚片，通用于所有X射線鍍層測厚儀(進口品牌Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等，國產(chǎn)天瑞，納優(yōu)等)。
1.薄膜片，單層測量品種：鎳（Ni）；鉻（Cr）；銅（Cu）；鋅（Zn）；Cd（鎘）；錫（Sn）；銀（Ag）；金（Au）；鈀(Pd)等，其它鍍層可定制.
2.鍍層標準片：雙鍍層：Au/Ni/xx，三鍍層：Au/Pd/Ni/xx等.
3.合金標準片：合金鍍層測量：Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.
4.測量厚度范圍：0.01~300μm.
美國博曼鍍層測厚儀精度高，價格優(yōu)惠。
? 美國博曼標準片均通過NIST、A2LA校正認證。
? 可為您提供金、銀、銅、錫、鋅、鎳、錳、鉻、鈀等元素的標準片。
? 根據(jù)您的特殊需求，可為您定制滿足您需要的標準片。
? 同時為您提供標準片再認證服務(wù)，并出具NIST或ANSI認證