射線熒光光譜儀是一種元素分析工具，幾十年來(lái)一直是檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室的主要分析儀器。這種多樣化的無(wú)損檢測(cè)方法只需要很少的樣品制備工作，并且對(duì)操作人員的經(jīng)驗(yàn)要求并不是太高，而且，該檢測(cè)技術(shù)還可以快速提供準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果，因此綜合來(lái)看，它可能是*具投資價(jià)值的分析工具�，F(xiàn)在，隨著XRF的檢測(cè)能力不斷提升和發(fā)展，這種檢測(cè)技術(shù)在越來(lái)越多的領(lǐng)域中都取得了關(guān)鍵性應(yīng)用，尤其是在質(zhì)量控制等方面。
X射線熒光光譜技術(shù)是基于這樣的原理：當(dāng)外部能量源被激發(fā)時(shí)，單個(gè)原子發(fā)射出特定波長(zhǎng)的X射線光子，通過(guò)計(jì)數(shù)樣品發(fā)出的每種能量的光子，可以識(shí)別樣品中的不同元素。
在制造/生產(chǎn)過(guò)程中，幾乎每種金屬產(chǎn)品都會(huì)鍍有涂層（通常是電鍍）或經(jīng)過(guò)一些化學(xué)處理（陽(yáng)極氧化或鍍鋅），來(lái)提高表面惰性效果或改善某些性能。XRF技術(shù)就是一種用于測(cè)量和量化這些表面處理的技術(shù)，可用于在任何金屬或非金屬基材上對(duì)任何單層或多層金屬涂層進(jìn)行測(cè)試。
另外，PCBs（印刷電路板）、晶體板、半導(dǎo)體及其組件都需要做一些*終處理，這些都是實(shí)現(xiàn)其功能的核心步驟。在這里，XRF檢測(cè)技術(shù)同樣可以作為一種標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)，來(lái)確定哪些產(chǎn)品符合或不符合相關(guān)規(guī)格。
涂層厚度測(cè)量是XRF在工業(yè)中*常見(jiàn)和*受歡迎的功能，當(dāng)然，這并不是其的功能。XRF系統(tǒng)還能夠執(zhí)行一些合金分析，并針對(duì)問(wèn)題提供一些解決方案。XRF可以確定每種合金元素的成分百分比，并確定合jin牌號(hào)。對(duì)于溶液分析，XRF可以直接量化電鍍槽中的金屬離子，這些均有助于更好地對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行質(zhì)量控制。