工業(yè)生產(chǎn)中重要的任務(wù)之一就是測量距離。但是這里的應(yīng)用情況復(fù)雜多樣，沒有一款傳感器能通用于所有任務(wù)。SICK 為測量距離提供豐富的產(chǎn)品系列用于各種各樣的測量任務(wù)。光電子學(xué)和超聲波傳感技術(shù)是測量距離的工作原理。
通過光學(xué)和 nm 精度的距離測量實現(xiàn)一致性和高產(chǎn)品質(zhì)量
位移測量傳感器是用于精確測量的激光傳感器，測量范圍達(dá) 1,000 mm。由于其測量精度，該傳感器尤其適用于與質(zhì)量或成本相關(guān)的控制、分類或測試過程�？蓽y量的特性包括例如尺寸、位置和形狀。在應(yīng)用位移測量傳感器時，您可以通過 100% 檢測改善成品質(zhì)量，同時降低材料成本和停機(jī)成本。
產(chǎn)品系列 OD Mini
輕松精確測量
· 緊湊型、堅固的外殼
· 單獨(dú)使用或與 OD Mini 評價單元一起使用
· 設(shè)備上配備顯示器和 LED，可對當(dāng)前狀態(tài)進(jìn)行可視化顯示
· 提供各種接口
· 通過顯示屏或外部示教輸入可進(jìn)行簡單培訓(xùn)
· 用于快速和精確測量的 CMOS 接收單元，其測量精度在 μm 范圍內(nèi)
· 各種測量范圍：從 10 mm 至 250 mm 均可進(jìn)行測量
產(chǎn)品系列 OD Value
簡單、準(zhǔn)確測量
· 多種測量范圍：從 26 mm ... 34 mm 至 100 mm ... 500 mm
· 借助 CMOS 接收元件實現(xiàn)非常準(zhǔn)確、不受表面限制的測量
· 簡單、基于 LED 的操作或示教方案
· 憑借大量的標(biāo)準(zhǔn)接口實現(xiàn)豐富的產(chǎn)品多樣性
· 用于精確測量極小物體的激光技術(shù)
· 緊湊的獨(dú)立式設(shè)備
· 卓越的性價比
產(chǎn)品系列 OD Max
兩個傳感器集成于一個評價單元：非常準(zhǔn)確地進(jìn)行測量和計算
· 多種測量范圍：從 24 mm ... 26 mm 至 250 mm ... 450 mm
· 使用 CMOS 接收元件進(jìn)行不受表面限制的測量
· 高測量頻率和高線性度
· 用于兩個傳感器進(jìn)行計算的不同計算公式
· 用于極準(zhǔn)確測量和識別極小的物體的激光技術(shù)
· 多種輸出方法
產(chǎn)品系列 OD Precision
高精度確定所有尺寸
· 多種測量范圍：從 24 mm ... 26 mm 至 300 mm ... 700 mm
· 使用 CMOS 接收元件進(jìn)行不受表面限制的測量
· 高測量準(zhǔn)確度和測量頻率
· 僅使用一個傳感器頭進(jìn)行玻璃厚度測量
· 不同的光點(diǎn)尺寸
· 多達(dá)三個傳感器的集成式計算
· 通過 RS-422 獨(dú)立使用
產(chǎn)品系列 Profiler
一條線勝于一個點(diǎn)
· 只使用一條激光束就能測量復(fù)雜的輪廓
· 可同時分析多四個區(qū)域
· 通過十個集成的測量功能，如高度、寬度和傾斜度
· 設(shè)備中的傳感器頭和評價單元
· 通過軟件或帶操作元件的集成顯示屏進(jìn)行調(diào)試
· 高質(zhì)量的 CMOS 接收單元
產(chǎn)品系列 OD1000
用于遠(yuǎn)距離精確測量的解決方案
· 長達(dá) 1 m 的大測量范圍
· OLED 顯示器或 SOPAS 配置軟件方便進(jìn)行設(shè)置
· 無需外部放大器單元的獨(dú)立式設(shè)備
· 堅固的金屬殼體
· 可調(diào)節(jié)模擬量輸出 (mA/V) 和采用 IO-Link 的推挽開關(guān)量輸出
· 不受顏色或表面影響的精確測量
· 多種安裝方式
產(chǎn)品系列 OD5000
性能強(qiáng)大的測量
· 高達(dá) 80 kHz 的測量頻率
· 采用TCP/IP 協(xié)議的以太網(wǎng)接口直接內(nèi)置于傳感器頭
· 用于設(shè)置參數(shù)的 Web 服務(wù)器界面
· 創(chuàng)新型評價算法
· 在定位任務(wù)中提供極高的重復(fù)精度
· 識別和測量極微小的凹陷或孔眼
產(chǎn)品系列 OC Sharp
高精度的彩色共焦測量技術(shù)
· 多種測量量程：從 600 μm 至 12 mm
· 大可靠性和精度的彩色共焦傳感器技術(shù)
· 至 4,000 Hz 的快速測量頻率
· 可靠測量極為不同的材料和顏色
· 只使用一個傳感器頭就能測量透明材料的厚度（用于大于 30 μm 層厚度的彩色共焦以及用于大于 3 μm 層厚度的干擾測試儀）。
· 用于測量小物體的極小光點(diǎn)
· 通過 OC Sharp 軟件舒適地進(jìn)行參數(shù)設(shè)置
