Agilent安捷倫E4404B 頻譜分析儀
·測(cè)量速度：28次更新/秒
·測(cè)量精度：±1dB
·可選用的10Hz分辨事寬濾波器
·機(jī)箱可容納6插槽選件卡
·97dB三階動(dòng)態(tài)范圍
·能在現(xiàn)場(chǎng)使用的堅(jiān)固，便于攜帶的機(jī)箱
·3年保用期。
Agilent ESA-E系列頻譜分析儀
Agilent ESA-E系列通用，便攜式頻譜分析儀擁有在同等價(jià)位上以往無(wú)法提供的許多性能，特點(diǎn)和靈活性。5咱型號(hào)可以提供從9kHz到1.5GHz與26.5GHz之間的頻率范圍。
測(cè)量速度快
5ms的全程射頻繁掃描時(shí)間和每秒達(dá)88次的測(cè)量速度可以為您提供實(shí)際上的實(shí)時(shí)測(cè)量響應(yīng)，這意味著將花較少時(shí)間對(duì)電路進(jìn)行測(cè)試和調(diào)整，高速遠(yuǎn)程測(cè)量和每秒達(dá)19次測(cè)量的數(shù)據(jù)傳送速度在自動(dòng)測(cè)試環(huán)境中能縮短關(guān)鍵的測(cè)試時(shí)間，可選用的20μs零頻率間隔掃描時(shí)間展出時(shí)域中的快速變化信號(hào)。
精度高
工作在整個(gè)掃描范圍的連續(xù)鎖相合成器具有更高的精度、穩(wěn)度和重復(fù)性。到3GHz為±1dB以及到26.5GHz為±2.5dB的出色幅度精度增增加測(cè)量的置信度，提高生產(chǎn)率并減小測(cè)試容限。幅度修正系數(shù)可以為用戶(hù)去除與頻率有關(guān)的影響。
自動(dòng)本底調(diào)整提供掃描之間的連續(xù)校準(zhǔn)，這意味著無(wú)須操作者介入便能維持測(cè)量十分精確。
數(shù)字分辨力
利用可選用的數(shù)字分辨帶寬（RBW）濾波器（10Hz~300Hz）能獲得更高的分辨力來(lái)區(qū)分和測(cè)量緊靠在一起的信號(hào)，其狹窄的波形因數(shù)（5：1）有肋于測(cè)量與載波接近的信號(hào)。這些數(shù)字RBW濾波器的掃描比模擬RBW濾波器快80倍，同時(shí)還提高了靈敏度。
寬動(dòng)態(tài)范圍95dB的三階動(dòng)態(tài)范圍（三階截獲為±11dBm）和5dB步進(jìn)衰減器能看到低電平夫真。借助-151dBm的靈敏度，可選用的機(jī)內(nèi)前置放大器和快的測(cè)量速度，增強(qiáng)了對(duì)寄生信號(hào)的搜索能力。達(dá)120dB的已校顯示范圍允許同時(shí)顯示大，小信號(hào)。
本公司回收以下品牌各類(lèi)儀器：
NI (美國(guó)國(guó)家儀器)、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時(shí)利）、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達(dá)）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛(ài)德萬(wàn)）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計(jì)) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、ITECH(艾德克斯)、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達(dá)）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽(yáng)光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測(cè)）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛(ài)斯福）、GWINSTEK （固緯）
回收類(lèi)別：
網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、綜合測(cè)試儀、示波器、信號(hào)發(fā)生器、信號(hào)分析儀、色彩分析儀、數(shù)字通訊測(cè)試儀、高頻信號(hào)源、頻率計(jì)、功率計(jì)、音頻分析儀、電源、數(shù)字源表、天饋線(xiàn)測(cè)試儀、光譜分析儀、噪聲系數(shù)分析儀、數(shù)字萬(wàn)用表、靜電計(jì)/高阻表、函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、LCR測(cè)試儀、電子負(fù)載、納伏表/皮安表、多用表校準(zhǔn)儀、廣播電視測(cè)試儀、高壓機(jī)/耐壓測(cè)試儀、NI機(jī)箱/模塊/控制器、 直流電源分析儀/模塊、數(shù)據(jù)采集器、邏輯分析儀、晶體管測(cè)試儀、調(diào)制度分析儀、藍(lán)牙測(cè)試儀、阻抗分析儀、視頻分析儀、光波測(cè)量系統(tǒng)、阻抗測(cè)試治具及附件、衰減器、探頭、RoHS/環(huán)保檢測(cè)儀、耦合板等等。