是德Keysight E4982A 射頻LCR表
描述
E4982A LCR 表可為 SMD 電感器、EMI 濾波器等無(wú)源元器件的制造測(cè)試提供性能，其中需要在高頻率上進(jìn)行阻抗測(cè)試（1 MHz ～ 3 GHz）。除了制造測(cè)試之外，E4982A 還可用于研發(fā)領(lǐng)域，借助強(qiáng)大的功能（例如列表測(cè)量）提供質(zhì)量保證。
Keysight E4982A 射頻LCR表 主要特性與技術(shù)指標(biāo)
頻率
·1 MHz ～ 300 MHz / 500 MHz / 1 GHz / 3 GHz，可升級(jí)
測(cè)量時(shí)間
·高速測(cè)量：0.9 ms（模式 1）、2.1 ms（模式 2）、3.7 ms（模式 3）
基本的精度和阻抗范圍
·0.8% 的基本精度與*的測(cè)量可重復(fù)性
·寬阻抗測(cè)量范圍：140 mΩ ～ 4.8 kΩ
更多特性
·SCPI 命令和處理器接口與 4287A 兼容
·小巧的測(cè)試頭（與 4287A 的尺寸相同）
·列表測(cè)量
·通用 PC連通性（GPIB、LAN 和 USB）
Keysight E4982A 射頻LCR表 描述
E4982A LCR 表可為 SMD 電感器、EMI 濾波器等無(wú)源元器件的制造測(cè)試提供性能，其中需要在高頻率上進(jìn)行阻抗測(cè)試（1 MHz ～ 3 GHz）。除了制造測(cè)試之外，E4982A 還可用于研發(fā)領(lǐng)域，借助強(qiáng)大的功能（例如列表測(cè)量）提供質(zhì)量保證。
Keysight E4982A 射頻LCR表 主要特性與技術(shù)指標(biāo)
頻率
·1 MHz ～ 300 MHz / 500 MHz / 1 GHz / 3 GHz，可升級(jí)
測(cè)量時(shí)間
·高速測(cè)量：0.9 ms（模式 1）、2.1 ms（模式 2）、3.7 ms（模式 3）
基本的精度和阻抗范圍
·0.8% 的基本精度與*的測(cè)量可重復(fù)性
·寬阻抗測(cè)量范圍：140 mΩ ～ 4.8 kΩ
更多特性
·SCPI 命令和處理器接口與 4287A 兼容
·小巧的測(cè)試頭（與 4287A 的尺寸相同）
·列表測(cè)量
·通用 PC連通性（GPIB、LAN 和 USB）
本公司高價(jià)回收以下品牌各類(lèi)儀器：
NI (美國(guó)國(guó)家儀器)、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時(shí)利）、HIOKI、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達(dá)）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛(ài)德萬(wàn)）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計(jì)) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、ITECH(艾德克斯)、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達(dá)）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽(yáng)光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測(cè)）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛(ài)斯福）、GWINSTEK （固緯）
回收類(lèi)別：
網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、綜合測(cè)試儀、示波器、信號(hào)發(fā)生器、信號(hào)分析儀、色彩分析儀、數(shù)字通訊測(cè)試儀、高頻信號(hào)源、頻率計(jì)、功率計(jì)、音頻分析儀、電源、數(shù)字源表、天饋線測(cè)試儀、光譜分析儀、噪聲系數(shù)分析儀、數(shù)字萬(wàn)用表、靜電計(jì)/高阻表、函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、LCR測(cè)試儀、電子負(fù)載、納伏表/皮安表、多用表校準(zhǔn)儀、廣播電視測(cè)試儀、高壓機(jī)/耐壓測(cè)試儀、NI機(jī)箱/模塊/控制器、 直流電源分析儀/模塊、數(shù)據(jù)采集器、邏輯分析儀、接收機(jī)、晶體管測(cè)試儀、調(diào)制度分析儀、藍(lán)牙測(cè)試儀、阻抗分析儀、視頻分析儀、光波測(cè)量系統(tǒng)、阻抗測(cè)試治具及附件、衰減器、探頭、RoHS/環(huán)保檢測(cè)儀、屏蔽箱/耦合板等等。
