8498-SV-MT通訊模塊
.功能與參數(shù)測試
1.<測試儀>對器件的檢測,僅能反應(yīng)出截止區(qū),放大區(qū)和飽和區(qū).但不
能測出工作頻率的高低和速度的快慢等具體數(shù)值等.
2.同理對TTL數(shù)字芯片而言,也只能知道有高低電平的輸出變化.而無
法查出它的上升與下降沿的速度.
四.晶體振蕩器
1.通常只能用示波器(晶振需加電)或頻率計測試,萬用表等無法測量,
否則只能采用代換法了.
2.晶振常見故障有:a.內(nèi)部漏電,b.內(nèi)部開路c.變質(zhì)頻偏d.外圍相連電
容漏電.這里漏電現(xiàn)象,用<測試儀>的VI曲線應(yīng)能測出.
3.整板測試時可采用兩種判斷方法:a.測試時晶振附近既周圍的有關(guān)
芯片不通過.b.除晶振外沒找到其它故障點.
4.晶振常見有2種:a.兩腳.b.四腳,其中第2腳是加電源的,注意不可隨
意短路.
五.故障現(xiàn)象的分布
1.電路板故障部位的不完全統(tǒng)計:1)芯片損壞30%, 2)分立元件損壞30%,
3)連線(PCB板敷銅線)斷裂30%, 4)程序破壞或丟失10%(有上升趨勢).
2.由上可知,當(dāng)待修電路板出現(xiàn)聯(lián)線和程序有問題時,又沒有好板子,既
不熟悉它的連線,找不到原程序.此板修好的可能性就不大了.
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| LCS-SITE-EVALUATION |
| LCS-MAS-TRNG |
| LCS-MAS-TRL |
| LCS-MAS-SRV |
| LCS-EFD-LCS |
| ASTEL-B |
| PRO-EFD-SRV |
| PRO-HRDWRE |
| PRO-AT |
| PRO-TRVL-EXP |
| PRO-CS-T4 |
| PRO-CS-T3 |
| PRO-CS-T2 |
| PRO-CS-T1 |
| PRO-CS-OS |
| TK05 |
| TK01 |
| ASTEL-P |
| PRO-CS-TRNG |
| TRNG-MA |
| TRNG-DY |
| 8498-SV-MT |
| 8497-TR-CL |
| 8497-TR-CC |
| 8496-TR-IM |
| 8495-TR-SN |
| 8498-TR-SN |
| 8495-TR-SI |
| 8495-TR-LO |
| 8494-TR-MA |
| 8498-TR-SC |
| 8496-TR-BA |
| 8496-TR-RF |
| 8496-TR-TE |
| 8495-TR-MA |
| 8496-TR-EB |
| 8496-TR-TS |
| 44A736719-008 |
| SA07-025 |
| 44A728314-100 |
| SA07-020 |
| 44A728312-189 |
| 44A736719-007 |
| 44A736719-001 |
| EDU-MAS-7704V |
| EDU-MAS-7705V |
| EDU-MAS-7700 |
| EDU-MAS-7700V |
| EDU-MAS-7701 |
| EDU-MAS-7701V |
| EDU-MAS-7702 |
| EDU-MAS-7702V |
| EDU-MAS-7703 |
| EDU-MAS-7703V |
| PPS |
| MEDIA-PPS |
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| KEY KEYLESS AC |
| IC695PMESWKIT-M |
| IC695PMESWKIT-HWKM |
| IC695PMESWKIT-HWK |
| EMR-UNIV |
| M7KEY |
| EMR-PPSO |
| LEGACYKEY |
| PRODUCTIVITY-SUITE |
| MEDIA-PRODUCTIVITY-SUITE |
| EMR-OEMD |
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