HC-80L恒溫恒濕試驗箱
>>產(chǎn)品簡介
恒溫恒濕試驗箱可以準確地模擬低溫、高溫、高溫高濕、低溫低濕復(fù)雜的自然狀環(huán)境，適用于塑膠、電子、食品、服裝、車輛、金屬、化學(xué)、建材等多種行業(yè)的產(chǎn)品可靠性檢測。其它同款產(chǎn)品:可程式恒溫恒濕試驗箱
>>執(zhí)行標準
執(zhí)行滿足標準及試驗方法
1.GBT10586-2006濕熱試驗箱技術(shù)條件
2.GB10592-2008高低溫試驗箱技術(shù)條件(溫度交變)
3.GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
4.GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
5.GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗(IEC60068-2-78:2001)
6.GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法
試驗Db:交變濕熱12h+12h循環(huán)(IEC60068-2-30:2005)
1.GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Cb:設(shè)備用恒定濕熱
2.(IEC60068-2-56) GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗N:溫度變化(IEC60068-2-14)
3.GJB150.3A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：高溫試驗
4.GJB150.4A-2009軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分：低溫試驗
>>儀器原理
>>技術(shù)參數(shù)
>>華測實力
1、華測經(jīng)過多年發(fā)展，在造紙、紙品、印刷、包裝以及材料檢測設(shè)備研發(fā)和生產(chǎn)中擁有非常成熟的技術(shù)，并且在造紙/紙品/印刷等多個領(lǐng)域中獲國家專利，產(chǎn)品質(zhì)量有保障。
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