云浮鍍層厚度檢測、鍍層成分檢測、鹽霧測試公司
掃描電子顯微鏡（scanning electron microscope，SEM）于20世紀60年代問世，用來觀察表本的表面結(jié)構(gòu)。其工作原理是用一束極細的電子束掃描樣品，在樣品表面激發(fā)出次級電子，次級電子的多少與電子束入射角有關，也就是說與樣品的表面結(jié)構(gòu)有關，次級電子由探測體收集，并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘�，再�?jīng)光電倍增管和放大器轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘杹砜刂茻晒馄辽想娮邮膹姸龋@示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象，反映了表本的表面結(jié)構(gòu)。為了使表本表面發(fā)射出次級電子，在固定、脫水后，要噴涂上一層重金屬微粒，重金屬在電子束的轟擊下發(fā)出次級電子信號。
掃描電鏡的特點
和光學顯微鏡及透射電鏡相比，掃描電鏡具有以下特點：
(一)能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，樣品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。
(二)樣品制備過程簡單，不用切成薄片。
(三)樣品可以在樣品室中作三度空間的平移和旋轉(zhuǎn)，因此，可以從各種角度對樣品進行觀察。
(四)景深大，圖象富有立體感。掃描電鏡的景深較光學顯微鏡大幾百倍，比透射電鏡大幾十倍。
(五)圖象的放大范圍廣，分辨率也比較高�？煞糯笫畮妆兜綆资f倍，它基本上包括了從放大鏡、光學顯微鏡直到透射電鏡的放大范圍。分辨率介于光學顯微鏡與透射電鏡之間，可達3nm。
(六)電子束對樣品的損傷與污染程度較小。
(七)在觀察形貌的同時，還可利用從樣品發(fā)出的其他信號作微區(qū)成分分析。
江蘇廣分實驗室：
一、：元素分析、成分分析：金屬、高分子材料成分分析（直讀光譜，紅外光譜儀，化學法，碳硫儀法等）、成分檢測、材質(zhì)分析、牌號鑒定等
二、物理性能檢測：拉伸試驗、彎曲試驗、反復彎曲試驗、硬度測試、沖擊測試、剪切試驗、杯突試驗、壓縮試驗保證載荷、楔負載試驗、脫碳層測試等
三、阻燃性能：UL 94，極限氧指數(shù)（LOI），軌道交通工具，家具類，建材類，電纜類
四、DNT無損探傷：超聲波探傷、Ｘ射線探傷、滲透探傷、磁粉探傷
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