SEM：利用陰極所發(fā)射的電子束經(jīng)陽極加速，由磁透鏡加速后形成一束直徑為幾十埃到幾千埃的電子束流，這束高能電子束轟擊到樣品表面會(huì)激發(fā)多種信息，經(jīng)過分別收集，放大就能從顯示屏上得到各種相應(yīng)的圖像。
EDS：入射電子束可停留在被觀察區(qū)域上的任何位置.X射線在直徑1微米的體積內(nèi)產(chǎn)生,可對試樣表面元素的分布進(jìn)行質(zhì)和量的分析，高能電子束轟擊樣品表面，激發(fā)各種信號。
可以對陶瓷、金屬、粉末、塑料等樣品進(jìn)行形貌觀察及成分分析：
?SEM主要利用背散射電子（BEI）和二次電子（SEI）來成像。
?EDS通過特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息。
