廣州顆粒級(jí)配檢測(cè)、顆粒大小檢測(cè)
廣州廣分檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)服務(wù)范圍:
石墨、磨料、陶瓷、碳化硅、硅灰石、金剛石、金屬粉、碳粉、藥粉、涂料、水泥、硬質(zhì)合金、催化劑、云母粉、填料等各種粉末物料顆粒的形貌觀察和粒度分析。
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粒度分布通常是指某一粒徑或某一粒徑范圍的顆粒在整個(gè)粉體中占多大的比例。它可用簡(jiǎn)單的表格、繪圖和函數(shù)形式表示顆粒群粒徑的分布狀態(tài)。顆粒的粒度、粒度分布及形狀能顯著影響粉末及其產(chǎn)品的性質(zhì)和用途。
粒度測(cè)定方法有多種，常用的有篩析法、沉降法、激光法、小孔通過法、吸附法等。篩析法是最簡(jiǎn)單的也是用得最早和應(yīng)用最廣泛的粒度測(cè)定方法，利用篩分方法不僅可以測(cè)定粒度分布，而且通過繪制累積粒度特性曲線，還可得到累積產(chǎn)率50％時(shí)的平均粒度。
粒度測(cè)試的目的
微小顆粒態(tài)物質(zhì)在日常生活和工業(yè)生產(chǎn)中有著很廣泛的應(yīng)用
尺寸的大小和分布情況直接關(guān)系到工業(yè)流程
產(chǎn)品質(zhì)量以及能源消耗和生產(chǎn)過程的安全性。因此，準(zhǔn)確方便地測(cè)量微小顆粒的直徑、粒徑，并得到粒徑分布函數(shù)成為一個(gè)非常有意義的課題。
常用測(cè)試方法的種類
1、篩析法(sieving method)：讓粉體試樣通過一系列不同篩孔的標(biāo)準(zhǔn)篩，將其分離成若干個(gè)粒級(jí)，分別稱重，求得以質(zhì)量百分?jǐn)?shù)表示的粒度分布。適用于0.02～100mm之間的粒度分布。電沉積篩(微孔篩)可達(dá)0.005mm。
由于制造工藝的原因，出廠篩子篩孔尺寸難保一致；使用過程中變形導(dǎo)致篩孔尺寸不準(zhǔn)——校準(zhǔn)。
優(yōu)點(diǎn)：成本低，使用容易。
缺點(diǎn)：對(duì)小于400目38u的干粉很難測(cè)量。測(cè)量時(shí)間越長(zhǎng)，得到的結(jié)果就越小。不能測(cè)量射流或乳濁液在測(cè)量針狀樣品時(shí)這會(huì)得到一些奇怪的結(jié)果。難以給出詳細(xì)的粒度分布，操作復(fù)雜，結(jié)果受人為因素影響較大，所謂某某粉體多少目，是指用該目數(shù)的篩篩分后的篩余量小于某給定值。如果不指明篩余量“目”的含義是模糊的，給溝通帶來不便。
2、顯微鏡法(microscopic method)：顯微鏡法測(cè)量的樣品量極少，取樣和制樣時(shí)，要保證樣品有充分的代表性和良好的分散性。
樣品制備后即可用顯微鏡一個(gè)一個(gè)測(cè)定顆粒，求出統(tǒng)計(jì)平均徑；
測(cè)定的顆粒數(shù)一般需幾百個(gè)以上才有意義。
光學(xué)顯微鏡測(cè)量時(shí)，常在目鏡中插入一塊刻有標(biāo)尺或幾何圖形的玻片，由人眼通過目鏡直接觀測(cè)；或?qū)@微鏡的顆粒圖像/照片投影到一個(gè)備有標(biāo)尺或幾何圖形的屏幕上，通過對(duì)比確定粒度。
3、庫(kù)爾特計(jì)數(shù)法（coulter counter method）：將被測(cè)粉體分散在電解質(zhì)溶液中，在該導(dǎo)電液中置一開小孔的隔板，并將兩個(gè)電極分別于小孔兩側(cè)插入導(dǎo)電液中。在壓差作用下，顆粒隨導(dǎo)電液逐個(gè)通過小孔。每個(gè)顆粒通過小孔時(shí)產(chǎn)生的電阻變化表現(xiàn)為與顆粒體積或直徑成正比的電壓脈沖。
4、沉降法（sedimentation method）
重力沉降法特點(diǎn)：適合測(cè)量不大(<50m )不小(>1m)的粒子。
離心沉降法特點(diǎn)：與重力沉降法相比，離心沉降時(shí)間減小�？蓽y(cè)小粒徑粒子，粒子尺寸下限一般為0.1m
兩種沉降法都只能測(cè)相同密度的粒子；重復(fù)性好。
5、空氣透過法
6、氣體吸附法
