檢測目的
檢測范圍
電子元器件、汽車電子、醫(yī)療、通訊、手機、電腦、電氣等
試驗簡介
按照具體檢測要求，通過光學顯微鏡、掃描電鏡對樣品的表面、斷口及其它關注截面進行高倍觀察。比如表面形貌、斷口形貌、金相組織、微觀層狀結(jié)構(gòu)等需要進行高倍觀察的檢測項目。
通常光學顯微鏡的觀察倍數(shù)最大為1000倍，檢測面必須平整；掃描電鏡對平整度要求不高，斷口形貌也能觀察，需要樣品具有導電性，一般的掃面電鏡可清晰觀測的最大倍數(shù)為5000~20000倍不等（具體看樣品的導電性，以及氣體殘余情況）。場發(fā)射掃描電鏡的可清晰觀測的最大倍數(shù)在10萬倍以上。
試驗設備
光學顯微鏡
掃描電鏡（SEM）
產(chǎn)品詳情
